[发明专利]半导体装置无效
申请号: | 201280053666.2 | 申请日: | 2012-10-18 |
公开(公告)号: | CN103918084A | 公开(公告)日: | 2014-07-09 |
发明(设计)人: | 住友正清;深津重光 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/739 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 王英;陈松涛 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 在一种半导体装置中,第一组中的栅极电极(7a)与第一栅极焊盘(9a)连接,第二组中的栅极电极(7b)与第二栅极焊盘(9b)连接。可以通过所述第一栅极焊盘(9a)和所述第二栅极焊盘(9b)彼此独立地控制所述第一组中的栅极电极(7a)和所述第二组中的栅极电极(7b)。在关断时,在将不形成反型层(15)的关断电压施加于所述第二组中的栅极电极(7b)之后,将不形成反型层(15)的关断电压施加于所述第一组中的栅极电极(7a)。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,包括:第一导电型的集电极层(1);第二导电型的漂移层(3),所述第二导电型的漂移层形成在所述集电极层(1)的上方;第一导电型的基极层(4),所述第一导电型的基极层形成在所述漂移层(3)的上方;多个沟槽(5),所述多个沟槽穿过所述基极层(4)而到达所述漂移层(3)并沿预定方向延伸;多个栅极绝缘膜(6),所述多个栅极绝缘膜分别形成在所述沟槽(5)的壁表面上;多个栅极电极(7a,7b),所述多个栅极电极分别形成在所述栅极绝缘膜(6)上,所述栅极电极(7a,7b)包括第一组中的所述栅极电极(7a)和第二组中的所述栅极电极(7b);第二导电型的多个发射极层(10),所述第二导电型的多个发射极层形成在所述基极层(4)的表面部分中的所述沟槽(5)的侧部处;发射极电极(13),所述发射极电极与所述发射极层(10)电气连接;集电极电极(14),所述集电极电极与所述集电极层(1)电气连接;第一栅极焊盘(9a),所述第一栅极焊盘与所述第一组中的所述栅极电极(7a)连接;以及第二栅极焊盘(9b),所述第二栅极焊盘与所述第二组中的所述栅极电极(7b)连接,其中,当将在所述基极层(4)中的与所述栅极绝缘膜(6)接触的部分处形成反型层(15)所利用的开启电压施加到所述栅极电极(7a,7b)时,电流在所述发射极电极(13)和所述集电极电极(14)之间流动,其中,能够通过所述第一栅极焊盘(9a)和所述第二栅极焊盘(9b)以彼此独立的方式控制所述第一组中的所述栅极电极(7a)和所述第二组中的所述栅极电极(7b),并且其中,在关断所述半导体装置时,在将不形成所述反型层(15)的关断电压施加到所述第二组中的所述栅极电极(7b)之后,将不形成所述反型层(15)的关断电压施加到所述第一组中的所述栅极电极(7a)。
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