[发明专利]晶圆级应用的RF屏蔽部在审
申请号: | 201280049911.2 | 申请日: | 2012-10-09 |
公开(公告)号: | CN103858227A | 公开(公告)日: | 2014-06-11 |
发明(设计)人: | 克拉克·戴维;西奥多·G·特斯耶尔 | 申请(专利权)人: | 弗利普芯片国际有限公司 |
主分类号: | H01L23/60 | 分类号: | H01L23/60;H05K9/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 余刚;李静 |
地址: | 美国亚*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 根据本发明的一种在集成电路芯片上形成芯片上型RF屏蔽部的方法的一个实施例包括:提供单个化之前的具有前侧和背侧的晶圆级集成电路部件晶圆;在晶圆的背侧上施加树脂金属层;以及将晶圆分离成分立的RF屏蔽部件。在单个化,即,在将晶圆分离成分立的RF屏蔽部件之后,位于背侧上的树脂金属层有效地用作RF屏蔽部。 | ||
搜索关键词: | 晶圆级 应用 rf 屏蔽 | ||
【主权项】:
一种在集成电路芯片上形成芯片上型RF屏蔽部的方法,包括:提供具有前侧和背侧的晶圆级集成电路部件晶圆;在所述晶圆的至少背侧上施加树脂金属层;以及将所述晶圆分离成分立的RF屏蔽部件。
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