[实用新型]一种半导体芯片测试工具有效
| 申请号： | 201220440281.9 | 申请日： | 2012-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN202815021U | 公开（公告）日： | 2013-03-20 |
| 发明（设计）人： | 罗奕真 | 申请（专利权）人： | 杰群电子科技（东莞）有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 | 代理人： | 雷利平 |
| 地址： | 523750 广东省东莞市黄江镇裕元工*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及半导体芯片技术领域，特别涉及一种半导体芯片测试工具，其结构包括包括固定座以及用于为半导体芯片的引脚进行导电的三个互相独立的测试片，每个测试片的固定端均可拆卸设置于固定座，三个测试片并列排列并且相邻两个测试片之间留有间隙，本实用新型通过将三个测试片改为独立固定于固定座上，当其中一片损坏，可单独将该片换掉，不需要将整组一起换掉，与现有技术相比，可减少资源的浪费。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 芯片 测试 工具 | ||
【主权项】：
一种半导体芯片测试工具，其特征在于：包括固定座以及用于为半导体芯片的引脚进行导电的三个互相独立的测试片，每个测试片的固定端均可拆卸设置于固定座，三个测试片并列排列并且相邻两个测试片之间留有间隙。
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