[发明专利]硅酸镓镧压电晶体的制造方法及其制品有效

专利信息
申请号: 201210593282.1 申请日: 2012-12-31
公开(公告)号: CN103911662A 公开(公告)日: 2014-07-09
发明(设计)人: 涂小牛;郑燕青;孔海宽;杨建华;施尔畏 申请(专利权)人: 中国科学院上海硅酸盐研究所;上海硅酸盐研究所中试基地
主分类号: C30B29/30 分类号: C30B29/30;C30B15/20
代理公司: 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 代理人: 曹芳玲
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及硅酸镓镧压电晶体的制造方法及其制品,所述方法采用坩埚提拉法生长晶体,包括:在接种工序中,将原料加热至熔化并在高于熔化温度80℃~140℃下保温使熔体稳定,并将籽晶在高于熔化温度10℃~30℃下接触熔体;旋转籽晶并开始提拉生长晶体,其中包括缩颈工序、扩肩工序、等径工序和收尾工序;以及在原位退火工序中,提拉晶体使晶体脱离熔体后保持位置不变并旋转晶体、以10~30℃/h的速率使熔体温度降至1200~1400℃,保持10~30h后以10~30℃/h的速率降至室温。
搜索关键词: 硅酸 压电 晶体 制造 方法 及其 制品
【主权项】:
一种硅酸镓镧压电晶体的制造方法,所述方法采用坩埚提拉法生长晶体,其特征在于,在接种工序中,将原料加热至熔化并在高于熔化温度80℃~140℃下保温使熔体稳定,并将籽晶在高于熔化温度10℃~30℃下接触熔体;旋转籽晶并开始提拉生长晶体,其中,在缩颈工序中,控制提拉高度为3~6mm并使生长出的晶体直径为Φ4~6mm;在扩肩工序中,控制提拉高度为20~40mm并使晶体的直径从Φ4~6mm扩大到Φ75~85mm;在等径工序中,控制提拉高度为75~85mm并使晶体直径控制在Φ75~85mm;收尾工序,控制提拉高度为20~30mm并使晶体直径从Φ80±2mm缩小到Φ18~22mm;以及在原位退火工序中,提拉晶体使晶体脱离熔体后保持位置不变并旋转晶体、以10~30℃/h的速率使熔体温度降至1200~1400 ℃,保持10~30h后以10~30℃/h的速率降至室温。
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