[发明专利]硅酸镓镧压电晶体的制造方法及其制品有效
申请号: | 201210593282.1 | 申请日: | 2012-12-31 |
公开(公告)号: | CN103911662A | 公开(公告)日: | 2014-07-09 |
发明(设计)人: | 涂小牛;郑燕青;孔海宽;杨建华;施尔畏 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海硅酸盐研究所;上海硅酸盐研究所中试基地 |
主分类号: | C30B29/30 | 分类号: | C30B29/30;C30B15/20 |
代理公司: | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人: | 曹芳玲 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及硅酸镓镧压电晶体的制造方法及其制品,所述方法采用坩埚提拉法生长晶体,包括:在接种工序中,将原料加热至熔化并在高于熔化温度80℃~140℃下保温使熔体稳定,并将籽晶在高于熔化温度10℃~30℃下接触熔体;旋转籽晶并开始提拉生长晶体,其中包括缩颈工序、扩肩工序、等径工序和收尾工序;以及在原位退火工序中,提拉晶体使晶体脱离熔体后保持位置不变并旋转晶体、以10~30℃/h的速率使熔体温度降至1200~1400℃,保持10~30h后以10~30℃/h的速率降至室温。 | ||
搜索关键词: | 硅酸 压电 晶体 制造 方法 及其 制品 | ||
【主权项】:
一种硅酸镓镧压电晶体的制造方法,所述方法采用坩埚提拉法生长晶体,其特征在于,在接种工序中,将原料加热至熔化并在高于熔化温度80℃~140℃下保温使熔体稳定,并将籽晶在高于熔化温度10℃~30℃下接触熔体;旋转籽晶并开始提拉生长晶体,其中,在缩颈工序中,控制提拉高度为3~6mm并使生长出的晶体直径为Φ4~6mm;在扩肩工序中,控制提拉高度为20~40mm并使晶体的直径从Φ4~6mm扩大到Φ75~85mm;在等径工序中,控制提拉高度为75~85mm并使晶体直径控制在Φ75~85mm;收尾工序,控制提拉高度为20~30mm并使晶体直径从Φ80±2mm缩小到Φ18~22mm;以及在原位退火工序中,提拉晶体使晶体脱离熔体后保持位置不变并旋转晶体、以10~30℃/h的速率使熔体温度降至1200~1400 ℃,保持10~30h后以10~30℃/h的速率降至室温。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海硅酸盐研究所;上海硅酸盐研究所中试基地,未经中国科学院上海硅酸盐研究所;上海硅酸盐研究所中试基地许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210593282.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:锅
- 下一篇:一种钼基复合材料的表面镀镍方法