[发明专利]一次编程元胞结构及其构成的晶体管阵列有效
申请号: | 201210411263.2 | 申请日: | 2012-10-25 |
公开(公告)号: | CN103778943B | 公开(公告)日: | 2016-11-16 |
发明(设计)人: | 仲志华;祝奕琳 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | G11C5/06 | 分类号: | G11C5/06;G11C5/02 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明一种一次编程元胞结构,包括三个同型MOS管,分别为选择管T1,传输管T2和编程管T3;选择管T1和传输管T2采用源漏极串联的方式连接,选择管T1的源极连到晶体管阵列的位线BL,传输管T2的漏极与编程管T3的衬底相连,编程管T3的栅极用以输入编程电压PL,选择管T1的栅极连到晶体管阵列的字线WL。本发明还公开了一种由所述一次编程元胞结构组成的晶体管阵列。本发明的元胞结构采用最小版图设计规则,元胞面积小,阵列集成度高;元胞结构简单,使用最为基础的MOS管,无需增加工艺成本,且适用于各类CMOS工艺,可移植性强;读取条件和编程条件简单易操作;编程完成后,编程管的栅氧化膜被击穿,具有很高的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 一次 编程 结构 及其 构成 晶体管 阵列 | ||
【主权项】:
一种一次编程元胞结构,其特征是,包括:三个同型的MOS管,分别为选择管(T1),传输管(T2)和编程管(T3);选择管(T1)和传输管(T2)采用源漏极串联的方式连接,选择管(T1)的源极连到晶体管阵列的位线(BL),传输管(T2)的漏极与编程管(T3)的衬底相连,编程管(T3)的源极和漏极均与传输管(T2)的漏极相连,编程管(T3)的栅极用以输入编程电压(PL),选择管(T1)的栅极连到晶体管阵列的字线(WL)。
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