[发明专利]一种压接式IGBT模块的制作方法及压接式IGBT模块有效
申请号: | 201210355762.4 | 申请日: | 2012-09-24 |
公开(公告)号: | CN102881589A | 公开(公告)日: | 2013-01-16 |
发明(设计)人: | 刘国友;覃荣震;黄建伟 | 申请(专利权)人: | 株洲南车时代电气股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/331 | 分类号: | H01L21/331;H01L21/58;H01L29/739;H01L23/495 |
代理公司: | 湖南兆弘专利事务所 43008 | 代理人: | 赵洪;周长清 |
地址: | 412001 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种压接式IGBT模块的制作方法及压接式IGBT模块,该方法的步骤为:①将底部钼片放置在一烧结基座中,将辅助夹具和多个功率半导体芯片放置于底部钼片上;②通过烧结将功率半导体芯片固定在底部钼片上,再将辅助夹具及烧结基座取掉;③安装PCB;④利用PCB作为上部钼片的定位工具将多个上部钼片固定;⑤进行管壳的压接。该模块包括底部钼片、功率半导体芯片、PCB和上部钼片,底部钼片为功率半导体芯片提供电流和散热通路,功率半导体芯片通过烧结固定于底部钼片上,PCB位于功率半导体芯片的上方并通过定位与底部钼片连接,上部钼片通过PCB定位固定。本发明具有整体结构更加简单紧凑、制作和装配更加简便、连接的可靠性更好、散热性能更好等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 压接式 igbt 模块 制作方法 | ||
【主权项】:
一种压接式IGBT模块的制作方法,其特征在于,步骤为:① 在IGBT模块的封装时,先将底部钼片(1)放置在一烧结基座(7)中,并将一个辅助夹具(6)放置于底部钼片(1)上,接着将多个功率半导体芯片(2)放置于底部钼片(1)上;其中底部钼片(1)为一整块钼片;所述功率半导体芯片(2)包括FRD芯片(21)和IGBT芯片(22),所述IGBT芯片(22)与FRD芯片(21)呈反并联设置;② 通过烧结将功率半导体芯片(2)固定在底部钼片(1)上,再将辅助夹具(6)及烧结基座(7)取掉;即,通过底部钼片(1)将IGBT芯片集电极(223)与FRD芯片(21)背面的阴极(212)相连,并作为IGBT模块的集电极;③ 安装PCB (3); ④ 利用PCB (3)作为上部钼片(4)的定位工具将多个上部钼片(4)固定;⑤ 进行管壳的压接:通过压接时外壳的管盖(80)与上部钼片(4)的接触实现IGBT芯片发射极(222)和FRD芯片(21)的阳极(211)互连,并作为IGBT模块的发射极;通过压接时外壳的底座(81)与底部钼片(1)的接触实现了IGBT芯片集电极(223)和FRD芯片(21)的阴极(212)互连,并作为IGBT模块的集电极;通过压接时PCB(3)的各接触电极与IGBT芯片栅极(221)的接触实现IGBT芯片栅极(221)互连并引出至IGBT模块的外部,作为IGBT模块的栅极(82)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株洲南车时代电气股份有限公司,未经株洲南车时代电气股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210355762.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种兼容耳机接口的装置
- 下一篇:一种页面编辑方法、装置及系统
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造