[发明专利]直接测量晶向偏离角的晶体定向仪及测量方法有效

专利信息
申请号: 201210317112.0 申请日: 2012-08-31
公开(公告)号: CN103257150A 公开(公告)日: 2013-08-21
发明(设计)人: 姜杰;赵逸群;袁晓鹏;李长城;贾钰超;王远;方舟;刘涛;杨亮;肖建国;普群雁 申请(专利权)人: 云南北方驰宏光电有限公司
主分类号: G01N23/207 分类号: G01N23/207
代理公司: 昆明今威专利商标代理有限公司 53115 代理人: 赛晓刚
地址: 650223 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 一种直接测量晶向偏离角的晶体定向仪,其特征在于在载物台一侧连接一个X射线发生器,另一侧连接一个X射线探测器,在载物台上有一个水平旋转台,水平旋转台可使待测晶体平行于光线传播面旋转,在水平旋转台的中心固定有一个垂直旋转台,垂直旋转台可以使待测晶体在垂直于光线传播面的平面内旋转,利用该晶体定向仪,能直接找到加工面和晶面的相交线,无需通过数据计算就能通过载物台的角度测量仪直接读取晶向偏离角β。本发明克服了现有X射线晶体定向仪操作方法复杂,测量过程需多次旋转、拆卸及固定被测晶体,测量效率低,容易引起累计误差和X射线泄露的缺陷。
搜索关键词: 直接 测量 偏离 晶体 定向 测量方法
【主权项】:
直接测量晶向偏离角的晶体定向仪,其特征在于:在载物台⑶上有水平旋转台(32),水平旋转台能水平旋转,水平旋转面与光线传播面平行;在水平旋转台的中心固定有垂直旋转台(31),垂直旋转台可在垂直于光线传播面的平面内旋转;在载物台上的水平旋转台的一侧有一个X射线发生器⑴,在载物台上的水平旋转台的另一侧有一个X射线探测器⑵,X射线发生器和X射线探测器的光路均对着水平旋转台的中心,X射线发生器用于发出入射光线,X射线探测器用于接收X射线,X射线发生器和X射线探测器的光路处于光线传播面内;待测晶体固定在垂直旋转台上。
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