[发明专利]改进可调节的ESD保护器件有效
申请号: | 201210292465.X | 申请日: | 2012-08-16 |
公开(公告)号: | CN103035638A | 公开(公告)日: | 2013-04-10 |
发明(设计)人: | 郭锡瑜;陈纪光 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;孙征 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供了一种ESD保护器件。该器件包括双极结型晶体管,该双极结型晶体管包括集电极、基极和发射极。集电极包括第一掺杂元件和在第一掺杂元件上设置的更重掺杂的第二掺杂元件。第一掺杂元件和第二掺杂元件分别具有第一掺杂极性。基极被设置为与集电极相邻,并且包括具有不同于第一掺杂极性的第二掺杂极性的第三掺杂元件。p-n结形成在第三掺杂元件与第一掺杂元件和第二掺杂元件中的一个之间。发射极形成在基极上方。发射极包括具有第一掺杂极性并与第三掺杂元件形成p-n结的第四掺杂元件。与第三掺杂元件相比更重地掺杂第四掺杂元件。本发明还提供了改进可调节的ESD保护器件。 | ||
搜索关键词: | 改进 调节 esd 保护 器件 | ||
【主权项】:
一种装置,包括:双极结型晶体管(BJT)器件,包括:集电极,设置在衬底中,所述集电极包括第一掺杂元件以及设置在所述第一掺杂元件上方的第二掺杂元件,其中,所述第一掺杂元件和所述第二掺杂元件均具有第一掺杂极性,并且所述第二掺杂元件的掺杂浓度等级高于所述第一掺杂元件的掺杂浓度等级;基极,设置在所述衬底中并与所述集电极相邻,所述基极包括具有不同于所述第一掺杂极性的第二掺杂极性的第三掺杂元件,其中,在所述第三掺杂元件与所述第一掺杂元件或所述第二掺杂元件形成pn结;以及发射极,设置在所述基极上方,所述发射极包括具有所述第一掺杂极性的第四掺杂元件,其中,所述第四掺杂元件的掺杂浓度等级高于所述第三掺杂元件的掺杂浓度等级。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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