[发明专利]将单晶半导体层转移到支承衬底上的方法有效
申请号: | 201210260321.6 | 申请日: | 2012-07-25 |
公开(公告)号: | CN102903664A | 公开(公告)日: | 2013-01-30 |
发明(设计)人: | G·戈丹;C·马聚尔 | 申请(专利权)人: | SOITEC公司 |
主分类号: | H01L21/762 | 分类号: | H01L21/762 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | 本发明涉及将单晶半导体层转移到支承衬底上的方法。这种将单晶半导体层(3)转移到支承衬底(1)上的方法包括以下步骤:a)将物种注入施主衬底(31);b)将施主衬底(31)键合至所述支承衬底(1);c)使施主衬底(31)断裂以便将层(3)转移到支承衬底(1)上;以及以下步骤:使待被转移的单晶层(3)的部分(34)变为非晶,而没有打乱所述层(3)的第二部分(35)的晶格,所述部分(34、35)分别为所述单晶层(3)的表面部分和隐埋部分;所述非晶部分(34)在低于500℃的温度下再结晶,所述第二部分(35)的晶格用作再结晶的籽晶。 | ||
搜索关键词: | 将单晶 半导体 转移 支承 衬底 方法 | ||
【主权项】:
一种将单晶半导体层(3)转移到支承衬底(1)上的方法,包括以下连续步骤:a)将物种注入被称为施主衬底的衬底(31)中,以便在所述施主衬底(31)中形成脆化区(32),所述脆化区(32)限定待被转移的单晶层(3);b)将所述施主衬底(31)键合至所述支承衬底(1);c)使所述施主衬底(31)在脆化区(32)断裂,以便将所述层(3)转移到所述支承衬底(1)上;d)移除被转移单晶层的表面部分;所述方法的特征在于,其还包括以下步骤:使所述待被转移的单晶层(3)的第一部分(34)变为非晶,而不用打乱所述单晶层(3)的第二部分(35)的晶格,所述第一部分和第二部分(34、35)分别为所述单晶层(3)中相对于注入方向的表面部分和隐埋部分,在执行步骤d)中的移除单晶层的表面部分之后,所述第一部分(34)的厚度大于被转移单晶层(3’)的厚度;所述单晶层(3)的所述第一非晶部分(34)再结晶,所述第二部分(35)的晶格用作再结晶的籽晶,所述再结晶在低于500℃的温度下执行。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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