[发明专利]将单晶半导体层转移到支承衬底上的方法有效

专利信息
申请号: 201210260321.6 申请日: 2012-07-25
公开(公告)号: CN102903664A 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: G·戈丹;C·马聚尔 申请(专利权)人: SOITEC公司
主分类号: H01L21/762 分类号: H01L21/762
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 发明涉及将单晶半导体层转移到支承衬底上的方法。这种将单晶半导体层(3)转移到支承衬底(1)上的方法包括以下步骤:a)将物种注入施主衬底(31);b)将施主衬底(31)键合至所述支承衬底(1);c)使施主衬底(31)断裂以便将层(3)转移到支承衬底(1)上;以及以下步骤:使待被转移的单晶层(3)的部分(34)变为非晶,而没有打乱所述层(3)的第二部分(35)的晶格,所述部分(34、35)分别为所述单晶层(3)的表面部分和隐埋部分;所述非晶部分(34)在低于500℃的温度下再结晶,所述第二部分(35)的晶格用作再结晶的籽晶。
搜索关键词: 将单晶 半导体 转移 支承 衬底 方法
【主权项】:
一种将单晶半导体层(3)转移到支承衬底(1)上的方法,包括以下连续步骤:a)将物种注入被称为施主衬底的衬底(31)中,以便在所述施主衬底(31)中形成脆化区(32),所述脆化区(32)限定待被转移的单晶层(3);b)将所述施主衬底(31)键合至所述支承衬底(1);c)使所述施主衬底(31)在脆化区(32)断裂,以便将所述层(3)转移到所述支承衬底(1)上;d)移除被转移单晶层的表面部分;所述方法的特征在于,其还包括以下步骤:使所述待被转移的单晶层(3)的第一部分(34)变为非晶,而不用打乱所述单晶层(3)的第二部分(35)的晶格,所述第一部分和第二部分(34、35)分别为所述单晶层(3)中相对于注入方向的表面部分和隐埋部分,在执行步骤d)中的移除单晶层的表面部分之后,所述第一部分(34)的厚度大于被转移单晶层(3’)的厚度;所述单晶层(3)的所述第一非晶部分(34)再结晶,所述第二部分(35)的晶格用作再结晶的籽晶,所述再结晶在低于500℃的温度下执行。
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