[发明专利]一种金属氧化物薄膜晶体管的制作方法无效

专利信息
申请号: 201210192517.6 申请日: 2012-06-12
公开(公告)号: CN102723279A 公开(公告)日: 2012-10-10
发明(设计)人: 徐苗;罗东向;邹建华;陶洪;王磊;兰林锋;彭俊彪 申请(专利权)人: 华南理工大学;广州新视界光电科技有限公司
主分类号: H01L21/34 分类号: H01L21/34
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 齐荣坤
地址: 510640 广东省广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种金属氧化物薄膜晶体管的制作方法,该金属氧化物薄膜晶体管结构包括:栅极金属层,栅极绝缘层,有源层,刻蚀阻挡层,源漏电极,保护层;本发明利用灰度掩膜版,并通过对光刻步骤进行特殊设计,大大简化了薄膜晶体管的制作工艺,并能够防止金属氧化物有源层的背沟道在工艺过程中受到污染。该发明应用于基于金属氧化物薄膜晶体管驱动面板的制作,是具有重要产业应用价值的技术。
搜索关键词: 一种 金属 氧化物 薄膜晶体管 制作方法
【主权项】:
一种金属氧化物薄膜晶体管的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)在透明衬底上沉积SiO2或Si3N4作为缓冲层,厚度为50nm~200nm;(2)在缓冲层上沉积导电薄膜,并图形化形成栅极金属层;(3)在真空的状态下,连续沉积栅极绝缘层、有源层,刻蚀阻挡层;(4)在刻蚀阻挡层上沉积光刻胶,利用灰度掩膜版对光刻胶进行曝光、显影得到所需图形;(5)依次对刻蚀阻挡层、有源层、栅极绝缘层进行刻蚀,并将刻蚀阻挡层、有源层、栅极绝缘层刻蚀为同一图形;(6)对光刻胶进行减薄处理,保留刻蚀阻挡层上的光刻胶;使用干法刻蚀方法图形化刻蚀阻挡层;(7)在刻蚀阻挡层上沉积金属层,并图形化得到源漏电极;(8)沉积保护层,得到金属氧化物薄膜晶体管。
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