[发明专利]半导体器件、具有半导体器件的半导体系统及其操作方法有效
申请号: | 201210187657.4 | 申请日: | 2012-06-08 |
公开(公告)号: | CN103093833B | 公开(公告)日: | 2017-05-03 |
发明(设计)人: | 李政勋 | 申请(专利权)人: | 海力士半导体有限公司 |
主分类号: | G11C29/50 | 分类号: | G11C29/50 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)11363 | 代理人: | 俞波,郭放 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种半导体器件包括数据储存单元,所述数据储存单元被配置成接收输入数据,以逻辑电平之间的电压电平差输出所述输入数据,且输出逻辑电平与输入数据有所差别的比较数据;测试操作单元,所述测试操作单元被配置成在由测试进入命令和测试退出命令所限定的测试操作时段期间响应于电压电平是响应于电平测试码决定的数据参考电压而周期性地判定测试数据的逻辑电平,且通过比较所述比较数据的逻辑电平与所述测试数据的逻辑电平而产生测试结果信号;以及测试操作感测信号发生单元,所述测试操作感测信号发生单元被配置成产生测试操作感测信号,所述测试操作感测信号响应于所述测试进入命令被激活而响应于测试结果信号被去激活。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 具有 半导体 系统 及其 操作方法 | ||
【主权项】:
一种半导体器件,包括:数据储存单元,所述数据储存单元被配置成接收输入数据,且以逻辑电平之间的第一电压电平差来输出所述输入数据作为比较数据,比较数据的逻辑电平与所述输入数据的逻辑电平有所差别;测试操作单元,所述测试操作单元被配置成在由测试进入命令和测试退出命令所限定的测试操作时段期间响应于数据参考电压来周期性地判定测试数据的逻辑电平,且通过比较所述比较数据的逻辑电平与所述测试数据的逻辑电平来产生测试结果信号,其中,所述数据参考电压的电压电平是响应于电平测试码而决定的;以及测试操作感测信号发生单元,所述测试操作感测信号发生单元被配置成产生测试操作感测信号,所述测试操作感测信号响应于所述测试进入命令被激活而响应于所述测试结果信号被去激活。
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