[发明专利]以SiC为基底的结构化石墨烯制备方法无效
申请号: | 201210159246.4 | 申请日: | 2012-05-22 |
公开(公告)号: | CN102723258A | 公开(公告)日: | 2012-10-10 |
发明(设计)人: | 郭辉;张克基;张玉明;张凤祁;邓鹏飞;雷天民 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;C01B31/04 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了以SiC为基底的结构化石墨烯制备方法,主要解决现有技术中制备的石墨烯表面不光滑、层数不均匀,制作器件时由于光刻工艺导致石墨烯电子迁移率降低的问题。本发明中先对SiC样片进行标准清洗;再在SiC样片表面淀积一层0.4-1.2μm厚的SiO2,并在SiO2上刻出图形窗口;将开窗后的样片置于石英管中,利用Ar气携带CCl4蒸汽进入石英管,在800-1100℃下气态CCl4与裸露的SiC反应,生成双层碳膜;再将生成的双层碳膜样片在Ar气中温度为1000-1200℃下退火10-30min,使双层碳膜在窗口位置重构成双层结构化石墨烯。本发明具有工艺简单,安全性高,双层结构化石墨烯表面光滑,孔隙率低的优点,可用于制作微电子器件。 | ||
搜索关键词: | sic 基底 结构 化石 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种以SiC为基底的结构化石墨烯制备方法,包括以下步骤:(1)对SiC样片进行标准清洗,即先使用NH4OH+H2O2试剂浸泡样片10分钟,取出后烘干,再使用HCl+H2O2试剂浸泡样片10分钟;(2)在清洗后的SiC样片表面利用等离子体增强化学气相沉积PECVD淀积一层0.4‑1.2μm厚的SiO2,作为掩膜;(3)在掩膜表面涂一层光刻胶,再在掩膜上刻出与所需制作的器件的衬底形状相同的窗口,露出SiC,形成结构化图形;(4)将开窗后的样片置于石英管中,并连接好各个装置,再对石英管加热至800‑1100℃;(5)对装有CCl4液体的三口烧瓶加热至65‑80℃,再向三口烧瓶中通入流速为50‑80ml/min的Ar气,利用Ar气携带CCl4蒸汽进入石英管中,使CCl4与裸露的SiC反应,生成双层碳膜,反应时间为20‑120min;(6)将生成的双层碳膜样片置于流速为25‑100ml/min的Ar气中,在温度为1000‑1200℃下退火10‑30分钟,使双层碳膜在窗口位置重构成双层石墨烯。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210159246.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种健康养生茶
- 下一篇:一种构造心音子波函数族的方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造