[发明专利]以SiC为基底的结构化石墨烯制备方法无效
申请号: | 201210159246.4 | 申请日: | 2012-05-22 |
公开(公告)号: | CN102723258A | 公开(公告)日: | 2012-10-10 |
发明(设计)人: | 郭辉;张克基;张玉明;张凤祁;邓鹏飞;雷天民 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;C01B31/04 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | sic 基底 结构 化石 制备 方法 | ||
1.一种以SiC为基底的结构化石墨烯制备方法,包括以下步骤:
(1)对SiC样片进行标准清洗,即先使用NH4OH+H2O2试剂浸泡样片10分钟,取出后烘干,再使用HCl+H2O2试剂浸泡样片10分钟;
(2)在清洗后的SiC样片表面利用等离子体增强化学气相沉积PECVD淀积一层0.4-1.2μm厚的SiO2,作为掩膜;
(3)在掩膜表面涂一层光刻胶,再在掩膜上刻出与所需制作的器件的衬底形状相同的窗口,露出SiC,形成结构化图形;
(4)将开窗后的样片置于石英管中,并连接好各个装置,再对石英管加热至800-1100℃;
(5)对装有CCl4液体的三口烧瓶加热至65-80℃,再向三口烧瓶中通入流速为50-80ml/min的Ar气,利用Ar气携带CCl4蒸汽进入石英管中,使CCl4与裸露的SiC反应,生成双层碳膜,反应时间为20-120min;
(6)将生成的双层碳膜样片置于流速为25-100ml/min的Ar气中,在温度为1000-1200℃下退火10-30分钟,使双层碳膜在窗口位置重构成双层石墨烯。
2.根据权利要求1所述的以SiC为基底的结构化石墨烯制备方法,其特征在于所述步骤(2)中利用PECVD淀积SiO2,其工艺条件为:
SiH4、N2O和N2的流速分别为30sccm、60sccm和200sccm,
反应腔内压力为3.0Pa,
射频功率为100W,
淀积温度为150℃,
淀积时间为20-100min。
3.根据权利要求1所述的以SiC为基底的结构化石墨烯制备方法,其特征在于所述SiC样片的晶型采用4H-SiC或6H-SiC。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造