[发明专利]一种高压发光二极管芯片及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201210119610.4 申请日: 2012-04-23
公开(公告)号: CN103378220A 公开(公告)日: 2013-10-30
发明(设计)人: 陈万世 申请(专利权)人: 比亚迪股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/12;H01L33/64
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518118 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种高压发光二极管芯片的制备方法,包括步骤:S11、在衬底上生长出具有缓冲层、n型氮化物层、发光层和p型氮化物层的外延片;S12、在外延片上刻蚀出多个间隔排列的第一沟槽;S13、在每个第一沟槽的底壁上刻蚀出第二沟槽,相邻第二沟槽之间形成单个微晶;S14、在相邻微晶的负极和正极之间形成第一钝化层;S15、在p型氮化物层表面形成金属反射层;S16、在相邻微晶的负极和正极之间沉积微晶连线,同时预形成芯片正负电极;S17、在除芯片正负电极之外的区域形成第二钝化层;S18、加厚预形成的芯片正负电极;S19、将芯片正负电极与金属化导热陶瓷基板上的正负极共晶层共晶键合。本发明能有效提高芯片的使用寿命和出光效率。
搜索关键词: 一种 高压 发光二极管 芯片 及其 制备 方法
【主权项】:
一种高压发光二极管芯片的制备方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:S11、在衬底上生长出具有缓冲层、n型氮化物层、发光层和p型氮化物层的外延片;S12、在外延片上刻蚀出多个间隔排列的第一沟槽,每个第一沟槽的深度刻蚀至n型氮化物层;S13、在每个第一沟槽的底壁上刻蚀出第二沟槽,第二沟槽的深度刻蚀至衬底且刻蚀宽度小于台阶的刻蚀宽度,在外延片上形成多个间隔排列的微晶;S14、在相邻微晶的负极和正极之间形成第一钝化层;S15、在p型氮化物层表面形成金属反射层;S16、在相邻微晶的负极和正极之间沉积微晶连线,在外延片左端的金属反射层上形成正电极,以及在外延片右端的n型氮化物层上形成负电极;S17、在除芯片正负电极之外的区域形成第二钝化层;S18、在正电极和负电极上分别加厚正负电极;S19、提供金属化导热陶瓷基板,所述金属化导热陶瓷基板包括导热陶瓷基板,在导热陶瓷基板上形成的正极金属层区和负极金属层区,在所述正极金属层区上形成的正极共晶层,在所述负极金属层区上形成的负极共晶层;将所述正电极与正极共晶层共晶键合,所述负电极与负极共晶层共晶键合。
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