[发明专利]基于AlN双晶向压电薄膜的声表面波器件及其制作方法无效
申请号: | 201210064272.9 | 申请日: | 2012-03-13 |
公开(公告)号: | CN102611406A | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 陈希明;阴聚乾 | 申请(专利权)人: | 天津理工大学 |
主分类号: | H03H3/08 | 分类号: | H03H3/08;H03H9/25;H03H9/02 |
代理公司: | 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 | 代理人: | 侯力 |
地址: | 300384 天津市西青区*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 一种基于AlN压电薄膜的新型高频声表面波器件,由纳米金刚石衬底、a轴择优取向的AlN薄膜、c轴择优取向的AlN薄膜和叉指换能器(IDT)依次叠加构成,形成IDT/c-AlN/a-AlN/金刚石多层膜结构;其制备方法是:1)采用微波等离子体化学气相淀积(MPCVD)方法制备纳米金刚石衬底;2)采用射频溅射法制备AlN压电薄膜;3)采用电子束蒸发法制备叉指换能器IDT。本发明的优点是:该高频声表面波器件频率高、机电耦合系数高,能满足高频率和大功率移动通信的要求;该制备方法所用设备简单、工艺条件方便易行,有利于大规模的推广应用,具有重大的生产实践意义。 | ||
搜索关键词: | 基于 aln 双晶 压电 薄膜 表面波 器件 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种基于AlN压电薄膜的新型高频声表面波器件,其特征在于:由纳米金刚石衬底、a轴择优取向的AlN薄膜、c轴择优取向的AlN薄膜和叉指换能器(IDT)依次叠加构成,形成IDT/c‑AlN/a‑AlN/金刚石多层膜结构。
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