[发明专利]基于AlN双晶向压电薄膜的声表面波器件及其制作方法无效
申请号: | 201210064272.9 | 申请日: | 2012-03-13 |
公开(公告)号: | CN102611406A | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 陈希明;阴聚乾 | 申请(专利权)人: | 天津理工大学 |
主分类号: | H03H3/08 | 分类号: | H03H3/08;H03H9/25;H03H9/02 |
代理公司: | 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 | 代理人: | 侯力 |
地址: | 300384 天津市西青区*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 aln 双晶 压电 薄膜 表面波 器件 及其 制作方法 | ||
1.一种基于AlN压电薄膜的新型高频声表面波器件,其特征在于:由纳米金刚石衬底、a轴择优取向的AlN薄膜、c轴择优取向的AlN薄膜和叉指换能器(IDT)依次叠加构成,形成IDT/c-AlN/a-AlN/金刚石多层膜结构。
2.根据权利要求1所述基于AlN压电薄膜的新型高频声表面波器件,其特征在于:所述纳米金刚石衬底薄膜厚度为3-5μm,a-轴择优取向AlN薄膜的厚度为300nm,c轴择优取向AlN薄膜的厚度为300nm。
3.一种如权利要求1所述基于AlN压电薄膜的新型高频声表面波器件的制备方法,其特征在于步骤如下:
1)采用微波等离子体化学气相淀积(MPCVD)方法制备纳米金刚石衬底,然后将其放入溅射设备中进行压电薄膜制备;
2)制备AlN压电薄膜:以Al靶作为靶材,采用射频溅射法在上述纳米金刚石衬底表面制备a-轴择优取向AlN薄膜,制备完成后在氮气环境中缓慢降温至300℃,形成的a轴择优取向的薄膜;然后在温度为300℃条件下,以Al靶作为靶材,采用射频溅射法继续在上述a-轴择优取向AlN薄膜衬底表面制备c-轴择优取向AlN薄膜,制备完成后在氮气环境中缓慢降温至常温;
3)在上述c-AlN/a-AlN/金刚石衬底上采用电子束蒸发法制备叉指换能器IDT。
4.根据权利要求3所述基于AlN压电薄膜的新型高频声表面波器件的制备方法,其特征在于:所述采用MPCVD法制备纳米金刚石衬底的工艺参数为:微波功率4000W、压强70torr、工作气体H2∶CH4∶O2=546∶45∶9、混合气体的流量为600sccm、沉积时间为2小时。
5.根据权利要求3所述基于AlN压电薄膜的新型高频声表面波器件的制备方法,其特征在于:所述在纳米金刚石衬底表面制备a-轴择优取向AlN膜的射频溅射工艺参数为:在氮气和氩气混合气体中进行反应,混合气体的流量为20sccm,氮气和氩气的体积比为12∶8,氮气和氩气的纯度均为99.999%,衬底温度为400℃、靶基距10cm、溅射功率为150W、工作气压0.6Pa、溅射时间为2小时,关闭氩气后继续通入氮气缓慢降温至300℃,降温时间为1小时。
6.根据权利要求3所述基于AlN压电薄膜的新型高频声表面波器件的制备方法,其特征在于:所述在a-轴择优取向的AlN薄膜表面制备c-轴择优取向AlN的射频磁控工艺参数为:在氮气和氩气混合气体中进行反应,混合气体的流量为20sccm,氮气和氩气的体积比为12∶8,氮气和氩气的纯度均为99.999%,衬底温度为300℃、靶基距6cm、射频功率150W、工作气压0.5Pa、溅射时间2小时,关闭氩气后继续通入氮气进行缓慢降温至常温,降温时间为2小时。
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