[发明专利]存储器模块的错误检查与校正系统以及方法有效
| 申请号： | 201210003924.8 | 申请日： | 2012-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN102567134A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 董一鸣;钟戟;沈力;王为 | 申请（专利权）人： | 威盛电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 钱大勇 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种存储器模块的错误检查与校正系统以及方法。对于该存储器模块的错误检查与校正方法，该存储器模块包括至少一存储器单元，该方法包括以下流程步骤：接收来自该存储器单元的一输入数据；通过一第一校正模块对该输入数据执行一第一错误校正操作并产生一解码结果，其中该解码结果用以表示是否解码失败；以及依据该解码结果，决定是否启动一第二校正模块对该输入数据执行一第二错误校正操作。其中，该第一校正模块以及该第二校正模块分别采用一第一方法以及一第二方法且该第一方法是以一第一容错数量的错误校正码进行错误校正，该第二方法是以一第二容错数量的错误校正码进行错误校正，且该第二容错数量大于该第一容错数量。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 模块 错误 检查 校正 系统 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种存储器模块的错误检查与校正方法，该存储器模块包括至少一存储器单元，包括下列步骤：接收来自该存储器单元的一输入数据；通过一第一校正模块对该输入数据执行一第一错误校正操作，并产生一解码结果，其中该解码结果用以表示是否解码失败；以及依据该解码结果，决定是否启动一第二校正模块对该输入数据执行一第二错误校正操作，其中该第一校正模块以及该第二校正模块分别采用一第一方法以及一第二方法且该第一方法是以一第一容错数量的错误校正码进行错误校正，该第二方法是以一第二容错数量的错误校正码进行错误校正，且该第二容错数量大于该第一容错数量。
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