[发明专利]存储器模块的错误检查与校正系统以及方法有效

专利信息
申请号: 201210003924.8 申请日: 2012-01-06
公开(公告)号: CN102567134A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 董一鸣;钟戟;沈力;王为 申请(专利权)人: 威盛电子股份有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 钱大勇
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 存储器 模块 错误 检查 校正 系统 以及 方法
【权利要求书】:

1.一种存储器模块的错误检查与校正方法,该存储器模块包括至少一存储器单元,包括下列步骤:

接收来自该存储器单元的一输入数据;

通过一第一校正模块对该输入数据执行一第一错误校正操作,并产生一解码结果,其中该解码结果用以表示是否解码失败;以及

依据该解码结果,决定是否启动一第二校正模块对该输入数据执行一第二错误校正操作,

其中该第一校正模块以及该第二校正模块分别采用一第一方法以及一第二方法且该第一方法是以一第一容错数量的错误校正码进行错误校正,该第二方法是以一第二容错数量的错误校正码进行错误校正,且该第二容错数量大于该第一容错数量。

2.如权利要求1所述的存储器模块的错误检查与校正方法,还包括下列步骤:

通过一错误检测单元对该输入数据进行一错误检测操作,产生一检错结果,其中该检错结果用以表示该输入数据是否有错误;以及

于该检错结果表示该输入数据有错误时,通过该第一校正模块对该输入数据执行该第一错误校正操作。

3.如权利要求1所述的存储器模块的错误检查与校正方法,其中该依据该解码结果,决定是否启动该第二校正模块对该输入数据执行该第二错误校正操作的步骤还包括:

当该解码结果表示解码成功时,不启动该第二校正模块执行该第二错误校正操作;以及

当该解码结果表示解码失败时,启动该第二校正模块对该输入数据执行该第二错误校正操作。

4.如权利要求1所述的存储器模块的错误检查与校正方法,其中该至少一存储器单元包括一第一存储器单元以及一第二存储器单元,且该依据该解码结果,决定是否启动该第二校正模块对该输入数据执行该第二错误校正操作的步骤还包括:

于该第一存储器单元以及该第二存储器单元的其中任一个的该解码结果表示解码失败时,启动该第二校正模块执行该第二错误校正操作。

5.如权利要求4所述的存储器模块的错误检查与校正方法,其中当该第一存储器单元的该解码结果以及该第二存储器单元的该解码结果均表示解码失败时,该第一存储器单元以及该第二存储器单元是以一轮询方式依序通过该第二校正模块执行该第二错误校正操作。

6.如权利要求4所述的存储器模块的错误检查与校正方法,其中该第一存储器单元以及该第二存储器单元分别包括一优先权,并且该第一存储器单元以及该第二存储器单元依据所述优先权依序通过该第二校正模块执行该第二错误校正操作。

7.如权利要求1所述的存储器模块的错误检查与校正方法,还包括:

接收欲写入至该存储器单元的一数据;

分别通过一第一编码法以及一第二编码法,依据该数据产生相应对应于该第一方法以及该第二方法的一第一同位数据以及一第二同位数据;

依据该数据、该第一同位数据以及该第二同位数据,产生一编码数据;以及

将该编码数据写入至该存储器单元。

8.如权利要求1所述的存储器模块的错误检查与校正方法,还包括:

提供一寄存器,用以设定是否允许启动该第二校正模块执行该第二错误校正操作。

9.如权利要求1所述的存储器模块的错误检查与校正方法,其中该存储器单元为一快闪存储器芯片。

10.一种存储器模块的错误检查与校正系统,其中该存储器模块包括多个存储器单元,包括:

多个第一校正模块对应耦接至所述存储器单元,每一所述第一校正模块对应所述存储器单元的其中一个且用以接收该对应存储器单元的一输入数据并对该输入数据执行一第一错误校正操作,并产生一解码结果;

一第二校正模块,用以于被启动时执行一第二错误校正操作,其中该第一校正模块是以一第一容错数量的错误校正码进行错误校正,该第二校正模块是以一第二容错数量的错误校正码进行错误校正且该第二容错数量大于该第一容错数量;以及

一仲裁模块,耦接于所述第一校正模块以及该第二校正模块之间,其中该仲裁模块是依据所述第一校正模块产生的所述解码结果决定是否启动该第二校正模块,

其中该仲裁模块是于所述解码结果的任一个表示解码失败时,启动该第二校正模块以对该输入数据执行该第二错误校正操作。

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