[发明专利]组装电池的半导体保护装置、包括半导体保护装置的电池组以及电子设备无效
| 申请号： | 201180043801.0 | 申请日： | 2011-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN103109197A | 公开（公告）日： | 2013-05-15 |
| 发明（设计）人： | 菅野纯一 | 申请（专利权）人： | 株式会社理光 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;H01M2/10;H01M2/34;H02J7/02 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 郭定辉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种保护包括串联的N个二次电池的组装电池的半导体保护装置包括断开检测电路，对于N个二次电池的每一个，其包括划分二次电池的相应一个的电压的电压感测电阻；参考电压；和将电压感测电阻获得的电压与参考电压相比较的第一比较器。该半导体保护装置还包括在预定时间间隔上相继地和有选择地将阻值小于电压感测电阻的相应一个的阻值的内阻与相应电压感测电阻并联的电路。该断开检测电路在内阻与相应电压感测电阻并联时，根据来自第一比较器的输出检测N个二次电池与半导体保护装置之间的断开。 | ||
| 搜索关键词： | 组装 电池 半导体 保护装置 包括 电池组 以及 电子设备 | ||
【主权项】：
一种保护包括串联的N个二次电池的组装电池的半导体保护装置，所述半导体保护装置包含：断开检测电路，对于N个二次电池的每一个，其包括配置成划分二次电池的电压的电压感测电阻；参考电压；和配置成将所述电压感测电阻获得的电压与参考电压相比较的第一比较器；以及配置成在预定时间间隔上相继地和有选择地将阻值小于所述电压感测电阻的相应一个的阻值的内阻与相应电压感测电阻并联的电路，其中所述断开检测电路被配置成当所述内阻与相应电压感测电阻并联时，根据来自所述第一比较器的输出检测所述N个二次电池与所述半导体保护装置之间的断开。
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