[发明专利]测量接触故障的方法和接触故障测量装置有效

专利信息
申请号: 201180010504.6 申请日: 2011-02-22
公开(公告)号: CN102770775A 公开(公告)日: 2012-11-07
发明(设计)人: 丸山进;土切英之;福田浩治;出町敦 申请(专利权)人: 本田技研工业株式会社
主分类号: G01R31/04 分类号: G01R31/04;B60R16/02;G01M17/007;G01R33/02
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在所公开的测量接触故障的方法和接触故障测量装置(14)中,由磁传感器(70)检测外力施加于待测量线束(80)的端子接头部(50)时的线束(80)周围的感应磁场的过度响应波动的大小,并且结果被显示为端子接头部(50)的接触状态的质量的指标。
搜索关键词: 测量 接触 故障 方法 装置
【主权项】:
一种测量布线系统中的线束(80,300)的端子接头部(50,302)中是否存在接触故障的接触故障测量方法,该接触故障测量方法包括以下步骤:将磁传感器(70,230)布置在待测量线束(80,300)附近;对所述待测量线束(80,300)的端子接头部(50,302)施加外力,利用所述磁传感器(70,230)检测当施加所述外力时所述线束(80,300)周围的感应磁场中的瞬时响应变化的大小,并显示所检测到的大小作为所述端子接头部(50,302)的接触状态是否可接受的指示。
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