[发明专利]隐形眼镜中的缺陷的检验有效
| 申请号： | 201180007728.1 | 申请日： | 2011-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN102834704A | 公开（公告）日： | 2012-12-19 |
| 发明（设计）人： | 维克多·费多普拉柯夫;黄循威;任长坡 | 申请（专利权）人： | 联达科技检测私人有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01N21/88;G02C7/04 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人： | 雷绍宁 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 新加坡;SG |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供用于检验透明和印刷隐形眼镜的一种方法和系统。通过同时使用明场照明和低角度暗场照明照射隐形眼镜来检验隐形眼镜，照射时隐形眼镜安置在位于阳模与阴模之间的腔中。此外，成像光学系统接收从隐形眼镜透出的光，而相机使用由成像光学系统接收的光来捕获隐形眼镜的图像。此外，数据处理系统配置成：对图像中的在亮度的动态范围的第一部分中的暗缺陷进行识别，并对图像中的在亮度的动态范围的第二部分中的亮缺陷进行识别。 | ||
| 搜索关键词： | 隐形眼镜 中的 缺陷 检验 | ||
【主权项】：
一种用于检验隐形眼镜的方法，所述方法包含：同时使用明场照明和暗场照明来照射所述隐形眼镜；使用从所述隐形眼镜接收的光来捕获所述隐形眼镜的图像；以及处理所述图像，从而识别所述隐形眼镜中的一个或多个缺陷的存在。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联达科技检测私人有限公司，未经联达科技检测私人有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201180007728.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
