[发明专利]隐形眼镜中的缺陷的检验有效

专利信息
申请号: 201180007728.1 申请日: 2011-02-23
公开(公告)号: CN102834704A 公开(公告)日: 2012-12-19
发明(设计)人: 维克多·费多普拉柯夫;黄循威;任长坡 申请(专利权)人: 联达科技检测私人有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01N21/88;G02C7/04
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 雷绍宁
地址: 新加坡*** 国省代码: 新加坡;SG
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 隐形眼镜 中的 缺陷 检验
【说明书】:

技术领域

本文中的实施例涉及透明和印刷隐形眼镜,且尤其涉及(但不排除其它方面)用于对印刷隐形眼镜进行检验的技术。

背景技术

业界制造出各种类型的隐形眼镜,这些隐形眼镜用于矫正视力、美容以及治疗等各种用途。这种隐形眼镜可大致分为印刷隐形眼镜或透明隐形眼镜。

众所周知,眼睛是感觉器官,而隐形眼镜是戴在眼睛上的物品,必需符合严格的技术规范来进行制造。为了确保隐形眼镜符合客户的严格质量要求,隐形眼镜在其制造的各种阶段得到检验。

传统地,使用明场照明(bright-field illumination)来对模制之后的隐形眼镜进行缺陷的检验。图1示出使用明场照明获取的透明隐形眼镜的图像100。在此图中,明亮区域是隐形眼镜,黑点102是存在于透明隐形眼镜中的气泡或其他类型的缺陷。虽然明场照明非常适于对透明隐形眼镜进行检验,但是这种技术可能并不最适于对印刷隐形眼镜进行检验。印刷隐形眼镜具有虹膜图纹(iris print),当使用明场照明来照射这种镜片时,印刷隐形眼镜的图像将包括对应于虹膜图纹的黑色区域以及对应于气泡或其他类型的缺陷的黑点。由于对应于气泡缺陷的黑点可能隐蔽在对应于虹膜图纹的黑色区域中,因此这种图像可能不适于识别缺陷。或者,如果仅用暗场照明来检验印刷隐形眼镜,则印刷隐形眼镜的图像将包括对应于虹膜图纹的明亮区域以及对应于气泡或其他类型的缺陷的亮点。由于对应于气泡或其他相似类型的缺陷的亮点可能隐蔽在对应于虹膜图纹的明亮区域中,因此这种图像可能不适于识别缺陷。因此,业界中需要一种能够可靠地对印刷隐形眼镜中的缺陷进行识别的系统。

此外,在传统技术中,在捕获用于缺陷检验的图像的过程中,系统要求除去模具总成中的模具(阳模或阴模)中的一个模具,以便为检验系统提供入口以照射隐形眼镜,从而执行缺陷检验。当模具分离时,有可能在分离过程中引入缺陷。此外,当在隐形眼镜中发现缺陷时,将难以确定缺陷是在模制过程中产生还是在分离过程中产生。因此,在业界中,需要在过程相关缺陷产生时了解过程相关缺陷,从而可采取适当措施来解决此问题。

发明内容

鉴于上述情况,本文中的一项实施例提供了一种用于对透明和印刷隐形眼镜进行检验的方法。所述方法包括同时使用明场照明和暗场照明来照射隐形眼镜,照射时隐形眼镜安置在位于阳模与阴模之间的腔中。此外,使用从隐形眼镜透出的以及进入成像光学系统的光来捕获隐形眼镜的图像。随后,对所述图像进行处理以识别隐形眼镜中缺陷的存在。通过处理对应于以下缺陷的图像来识别缺陷:在亮度的动态范围的第一部分中的暗缺陷以及在亮度的动态范围的第二部分中的亮缺陷。在透明镜片的情况下,暗缺陷是污染物;在印刷隐形眼镜的情况下,暗缺陷是污染物和印刷污迹。亮缺陷在透明和印刷隐形眼镜中均是气泡和类似缺陷。

实施例进一步揭示了一种用于检验隐形眼镜的系统。所述系统包括照明系统、成像光学系统、至少一个相机以及数据处理系统。所述照明系统配置成同时使用明场照明和暗场照明来照射隐形眼镜,照射时隐形眼镜位于阳模与阴模之间的腔之内。此外,所述成像光学系统配置成接收从隐形眼镜透出的光。此外,相机配置成使用进入成像光学系统的光来捕获隐形眼镜的图像。此外,数据处理系统配置成处理由相机捕获的图像,从而识别隐形眼镜中的一个或多个缺陷的存在。所述暗缺陷能够通过处理在亮度的动态范围的第一部分中的图像来进行识别,而所述亮缺陷则能够通过处理在亮度的动态范围的第二部分中的图像来进行识别。

当结合下文的描述以及附图进行考虑时,将会更好地了解和理解本文中的实施例的这些以及其他方面。

附图说明

通过下文结合图式的详细描述,将会更好地理解本文中的实施例,在图式中:

图1图示了使用明场照明捕获的透明隐形眼镜的图像100。

图2根据一项实施例图示了模具总成200;

图3根据一项实施例图示了用于对透明或印刷隐形眼镜进行检验的系统300,所述隐形眼镜位于模具之内;

图4根据一项实施例图示了从照明系统至透明或印刷隐形眼镜的光的路径;以及

图5根据一项实施例图示了印刷隐形眼镜210的图像500。

具体实施方式

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联达科技检测私人有限公司,未经联达科技检测私人有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201180007728.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top