[发明专利]形成金属柱的方法有效
| 申请号： | 201110433918.1 | 申请日： | 2011-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN102593044A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 林正怡;吴逸文;吕文雄;林志伟;杨宗翰;林修任;郑明达;刘重希 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/768 | 分类号： | H01L21/768;H01L21/28 |
| 代理公司： | 北京德恒律师事务所 11306 | 代理人： | 陆鑫;房岭梅 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本公开涉及金属柱的制造。制造半导体器件的示例性方法包括的步骤有：提供具有接触焊盘的衬底；形成钝化层，其在衬底上方延伸并且在接触焊盘上有开口；在接触焊盘和部分钝化层上形成金属柱；在金属柱上方形成焊接层；以及使金属柱的侧壁与有机化合物发生反应，以在金属柱的侧壁上形成该有机化合物的自组装单层或自组装多层。 | ||
| 搜索关键词： | 形成 金属 方法 | ||
【主权项】：
一种用于制造半导体器件的方法，包括：提供有接触焊盘的衬底；形成钝化层，其在所述衬底上方延伸并且在所述接触焊盘上具有开口；在所述接触焊盘和部分所述钝化层上方形成金属柱；在所述金属柱上方形成焊接层；以及使所述金属柱的侧壁与有机化合物发生反应以在所述金属柱的侧壁上形成所述有机化合物的自组装单层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
