[发明专利]一种在nanoLOC测距系统中利用RSSI降低多径误差的方法有效
| 申请号： | 201110404503.1 | 申请日： | 2011-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN102523592A | 公开（公告）日： | 2012-06-27 |
| 发明（设计）人： | 赵泰洋;郭成安;李小兵;王宇;杨清山 | 申请（专利权）人： | 大连理工大学 |
| 主分类号： | H04W24/00 | 分类号： | H04W24/00;H04W64/00 |
| 代理公司： | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人： | 梅洪玉 |
| 地址： | 116024*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种在nanoLOC测距系统中利用RSSI降低多径误差的方法，本发明属于无线定位技术领域，涉及一种以nanoLOC芯片的测量结果为基础，通过数据融合技术来减少多径效应对测距结果影响的方法。其特征是：该方法用于基于nanoLOC芯片构成的定位系统中，在测量基站与移动站的距离过程中，首先读取nanoLOC芯片的测距结果d和RSSI(接收信号强度指示)值r，之后利用d与r计算出一个校正参数，再利用该校正参数对测距结果进行校证，得到最终测距结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 nanoloc 测距 系统 利用 rssi 降低 误差 方法 | ||
【主权项】：
一种在nanoLOC测距系统中利用RSSI降低多径误差的方法，其特征在于：(1)启动nanoLOC芯片的一次测距过程，在测距结束后，读取其测距结果和RSSI值；(2)将读取的测距结果代入公式(1)中：r′＝K×d (1)其中d是从nanoLOC芯片中读取的测距结果，K是比例常数，这里取0.7效果较好；r′是计算得到的RSSI的参考值，该值是在无多径环境下，测距结果为d时的RSSI值；(3)将RSSI的参考值r′与从nanoLOC芯片中读取的RSSI值r代入下式：Vr＝r′‑r (2)式中Vr是RSSI的参考值与从读到的RSSI值的差；再将该差值代入公式(3)即可得到校正参数C； C = 1 Vr r < 1.5 Vr r - 0.5 1 . 5 ≤ Vr r ≤ 2 1.5 Vr r > 2 - - - ( 3 ) (4)利用式(3)得到的校正参数C对测距结果d按照公式(4)进行修正，得到最终测距结果d0 d 0 = d C - - - ( 4 )
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