[发明专利]一种在nanoLOC测距系统中利用RSSI降低多径误差的方法有效
| 申请号： | 201110404503.1 | 申请日： | 2011-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN102523592A | 公开（公告）日： | 2012-06-27 |
| 发明（设计）人： | 赵泰洋;郭成安;李小兵;王宇;杨清山 | 申请（专利权）人： | 大连理工大学 |
| 主分类号： | H04W24/00 | 分类号： | H04W24/00;H04W64/00 |
| 代理公司： | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人： | 梅洪玉 |
| 地址： | 116024*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 nanoloc 测距 系统 利用 rssi 降低 误差 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种在nanoLOC测距系统中利用RSSI降低多径误差的方法，其特征在于：
(1)启动nanoLOC芯片的一次测距过程，在测距结束后，读取其测距结果和RSSI值；
(2)将读取的测距结果代入公式(1)中：
r′＝K×d (1)
其中d是从nanoLOC芯片中读取的测距结果，K是比例常数，这里取0.7效果较好；r′是计算得到的RSSI的参考值，该值是在无多径环境下，测距结果为d时的RSSI值；
(3)将RSSI的参考值r′与从nanoLOC芯片中读取的RSSI值r代入下式：
Vr＝r′-r (2)
式中Vr是RSSI的参考值与从读到的RSSI值的差；再将该差值代入公式(3)即可得到校正参数C；
(4)利用式(3)得到的校正参数C对测距结果d按照公式(4)进行修正，
得到最终测距结果d0
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