[发明专利]平面型单向触发二极管芯片及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201110400106.7 申请日: 2011-12-06
公开(公告)号: CN102412268A 公开(公告)日: 2012-04-11
发明(设计)人: 邓爱民;吴金姿;徐泓;保爱林 申请(专利权)人: 绍兴旭昌科技企业有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/36;H01L29/861;H01L21/329
代理公司: 浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100 代理人: 徐关寿
地址: 312000 浙江省绍*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开一种平面型单向触发二极管芯片及其制造方法。它包括硅基片,在硅基片的抛光面上设有第一PN结以及第一扩散层,在第一扩散层上设有第二PN结以及第二扩散层,该芯片在厚度方向形成了浓度渐变的三层结构,分别为浓度最低的硅基片,浓度高于硅基片的第一扩散层,浓度高于第一扩散层的第二扩散层,在第一PN结和第二PN结暴露于硅基片的抛光表面上覆盖有钝化层,在第二扩散层的上表面以及硅基片背面沉积金属导电层。本发明具有制程工艺简单、可靠性高、可替换应用于节能灯半桥逆变器启动电路中双向触发二极管等特点。
搜索关键词: 平面 单向 触发 二极管 芯片 及其 制造 方法
【主权项】:
一种平面型单向触发二极管芯片,包括硅基片(1),其特征在于:在硅基片(1)的抛光面上设有第一PN结(2)以及第一扩散层(3),在第一扩散层(3)上设有第二PN结(4)以及第二扩散层(5),且第一PN结(2)以及第二PN结(4)均为曲面结,该芯片在厚度方向形成了浓度渐变的三层结构,分别为浓度最低的硅基片(1),其浓度(C1)为9.5E15~5E16,浓度高于硅基片(1)的第一扩散层(3),其最高浓度(C2)为1.5E17~8E17,浓度高于第一扩散层(3)的第二扩散层(5),其最高浓度(C3)为1E20~2E21,第一PN结(2)与第二PN结(4)之间的距离(6)为0.5~10微米,在第一PN结(2)和第二PN结(4)暴露于硅基片(1)的抛光表面(7)上覆盖有钝化层(8),在第二扩散层(5)的上表面以及硅基片(1)背面沉积金属导电层(9)。
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