[发明专利]检测编程操作对临近存储单元干扰的方法

摘要

本发明提供一种检测编程操作对临近存储单元干扰的方法，在对存储阵列的单元进行编程操作的同时，同时选通多根连续位线，测量与被编程存储单元的位线相邻的连续两根位线的电压，计算流过所述两根连续位线连接的存储单元的泄露电流，通过判断所述泄露电流是否大于预设电流值，可以检测与被编程存储单元临近的存储单元中原有的信息是否受到泄露电流的干扰。另外，如果测量与被编程存储单元的施加低电压的位线相邻的连续两根位线的电压，还可以检测被编程存储单元的编程速度是否受到泄露电流的干扰。

主权项

一种检测编程操作对临近存储单元干扰的方法，其特征在于，包括：选通被编程存储单元的字线；选通存储阵列的多根连续位线，其中，在所述被编程存储单元的一根位线施加第一编程电压，另一根位线施加第二编程电压，所述第二编程电压高于所述第一编程电压；在检测过程中每根位线只能施加一次电压；测量与所述被编程存储单元的位线相邻的两根连续位线之间的电压；根据所述两根连续位线之间的电压计算流过所述两根连续位线连接的存储单元的泄露电流；判断所述泄露电流是否大于预设电流值，如果是，与所述被编程存储单元临近的存储单元中存储信息受到所述泄露电流干扰；如果否，与所述被编程存储单元临近的存储单元中存储信息不受所述泄露电流干扰。