[发明专利]集成电路版图冗余金属填充的方法及集成电路无效
申请号: | 201110337196.X | 申请日: | 2011-10-31 |
公开(公告)号: | CN102385656A | 公开(公告)日: | 2012-03-21 |
发明(设计)人: | 杨飞;陈岚;阮文彪;李志刚;胡超;马天宇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人: | 郑瑜生 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明实施例提出了一种集成电路版图冗余金属填充的方法,所述集成电路版图包括信号线和冗余金属,其中所述信号线之间的冗余金属的密度不变,调整所述冗余金属的分布,减小所述冗余金属对信号线耦合电容的影响。本发明实施例另一方面还提出了一种集成电路版图。本发明提出的方案,通过考量冗余金属对互连线耦合电容的影响,减小冗余金属对信号线耦合电容的影响,降低冗余金属对时序的收敛性和信号的完整性的影响,提高产品的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 版图 冗余 金属 填充 方法 | ||
【主权项】:
一种集成电路版图冗余金属填充的方法,其特征在于,所述集成电路版图包括信号线和冗余金属,其中所述信号线之间的冗余金属的密度不变,调整所述冗余金属的分布,减小所述冗余金属对信号线耦合电容的影响。
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