[发明专利]一种超导交流磁化率测量装置及测量方法有效
| 申请号： | 201110335473.3 | 申请日： | 2011-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN102507725A | 公开（公告）日： | 2012-06-20 |
| 发明（设计）人： | 王三胜;褚向华;程远超 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01N27/76 | 分类号： | G01N27/76;G01R33/16 |
| 代理公司： | 北京永创新实专利事务所 11121 | 代理人： | 周长琪 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种超导交流磁化率测量装置及测量方法，属于超导电子学领域。通过将被测超导材料放置初级线圈和次级线圈之间，然后一并固定在密闭真空室内，通过压缩制冷机对被测超导材料制冷，通过锁相放大器提取次级线圈感应的电压信号，同时锁相放大器为初级线圈提供交流电压激励，通过温控仪测量被测超导材料的温度，通过计算机存储锁相放大器测得的电压信号和温控仪测得的温度信号并实时显示锁相放大器测得的电压信号随温度变化的曲线。通过本发明可以对超导材料的转变温度进行无损测量，便于及时掌握测量情况，是高效、准确、可靠的测试手段，对制备超导材料性能检验有一定的实用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 超导 交流 磁化率 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种超导交流磁化率测量装置，其特征在于：包括真空室、真空泵、压缩制冷机、锁相放大器、温控仪、计算机与线圈组；其中，真空泵与真空室连通，压缩制冷机的制冷端由真空室底部伸入到真空室内；真空室内设置有温度传感器，通过温度传感器实时采集真空室内的温度数据；在真空室内部设置有线圈组，线圈组包括初级线圈骨架、次级线圈骨架、初级线圈与次级线圈；初级线圈骨架固定在压缩制冷机的制冷端端面上，次级线圈骨架设置在初级线圈骨架上方；在初级线圈骨架与次级线圈骨架上分别盘绕有初级线圈、次级线圈，被测超导材料放置在初级线圈与次级线圈间；所述初级线圈和次级线圈分别与锁相放大器的输出端和输入端相连，锁相放大器用来为初级线圈提供交流激励电压，同时实时测量次级线圈电压信号；温控仪分别与温度传感器和压缩制冷机相连，温控仪和锁相放大器还与计算机相连；通过温控仪获取温度传感器采集的真空室内温度数据；计算机用来采集温控仪获取的温度数据以及锁相放大器测得的电压数据，进行保存，并自动绘制交流磁化率曲线；计算机还根据接收到的温度数据，通过温控仪控制压缩制冷机的功率实现对真空室内温度控制。
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