[发明专利]带有集成二极管的自对准沟槽MOSFET有效

专利信息
申请号: 201110321517.7 申请日: 2011-10-12
公开(公告)号: CN102544100A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 雷燮光;安荷·叭剌 申请(专利权)人: 万国半导体股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 张静洁;徐雯琼
地址: 美国加利福尼亚桑*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明带有集成二极管的自对准沟槽MOSFET利用自对准方式,可以制备带有集成二极管的晶体管器件。这种器件包括一个掺杂的半导体衬底,具有一个或多个电绝缘的栅极电极,形成在衬底中的沟槽中。一个或多个本体区形成在每个栅极沟槽附近的那部分衬底中。一个或多个源极区以自对准的方式,形成在每个栅极沟槽附近的本体区顶部。一个或多个厚绝缘物部分形成在栅极电极上方,栅极电极在衬底的顶面上,带有相邻的厚绝缘物部分之间的间距。金属形成在厚绝缘物部分上方的衬底上方。金属穿过厚绝缘物部分之间的间距,构成到衬底的自对准接头。集成二极管形成在自对准接头下方。
搜索关键词: 带有 集成 二极管 对准 沟槽 mosfet
【主权项】:
一种自对准的晶体管器件,其特征在于,包括:一个掺杂的半导体衬底,具有一个或多个电绝缘的栅极电极形成在衬底中的栅极沟槽中;一个或多个本体区,形成在每个栅极沟槽附近衬底的顶部;一个或多个源极区,以自对准的方式,形成在每个栅极沟槽附近的本体区顶部;一个或多个厚绝缘物部分,形成在衬底顶面上的栅极电极上方,带有相邻的厚绝缘物部分之间的空间;一个或多个金属层,形成在衬底上方的厚绝缘物部分上方,其中穿过厚绝缘物部分之间的空间,所述的金属形成一个到衬底的自对准接头,其中一个集成的二极管形成在所述的自对准接头下方,其中所述的集成的二极管是一个快速回复二极管。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于万国半导体股份有限公司,未经万国半导体股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110321517.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top