[发明专利]利用硼参杂制作P型非晶半导体以改善穿隧效应膜层无效

专利信息
申请号: 201110283723.3 申请日: 2011-09-22
公开(公告)号: CN103022269A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 戴嘉男;刘幼海;刘吉人 申请(专利权)人: 吉富新能源科技(上海)有限公司
主分类号: H01L31/20 分类号: H01L31/20;H01L31/075;H01L31/0288;H01L31/0352
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201707 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明是利用硼参杂制作P型非晶半导体以改善穿隧效应膜层。其主要是在PECVD内进行,先制作非晶硅P.I.N型半导体薄膜,制作P、I、N型非晶三层,接着本发明,在N型微晶半导体后,利用硼参杂作P型非晶,控制硼参杂制作非晶,由于穿隧效应中,要将两层之间的N/P键结产生电场缩小,故制作缺陷薄膜,让载子在内部作复合,将内建电场缩小,硼参杂的P型非晶结构,内部缺陷严重,此层较薄可保持高穿透率,让光易进入I层非晶硅内,较低电阻值作穿隧效应,完成P型非晶后,连接P型微晶,两者界面恰当,再作微晶I型及非晶N型后,完成薄膜太阳能,再作背电极得发电效率,此发明P型半导体于穿隧效应中可让电子电洞流通顺利,故可提高太阳能薄膜电池效率。
搜索关键词: 利用 参杂 制作 型非晶 半导体 改善 效应
【主权项】:
本发明主要目的是利用硼参杂制作P型非晶半导体以改善穿隧效应膜层,其主要是在PECVD腔体内进行制程,先由PECVD腔体制作非晶硅P.I.N型半导体薄膜,藉由调整腔体的温度(控制约200C)、制程压力(低压)、气体流量、电极与玻璃间距、以及RF power(低Power)等参数,制作成第一层P型非晶半导体、第二层I型非晶半导体、第三层N型非晶半导体三层,接着就是本发明,在N型微晶半导体后,利用硼参杂制作P型非晶半导体,其控制硼所参杂的含量来制作有间隙的非晶半导体,由于在穿隧效应中,要将两层之间的N/P键结产生的内建电场缩小,因此要制作有defect的薄膜,让载子在内部能够作recombination,且要让recombination rate增快,才可以将内建电场缩小,而制作硼参杂的P型非晶半导体,因为是非晶结构,其内部缺陷严重,且此层不需要太厚,故可以保持穿透率也较高,让光能够容易进入到第二层的非晶硅内,此外其也有较低的电阻值,故适合用作于穿隧效应用,且在制作完本发明P型非晶半导体后,可以马上连接P型微晶半导体,两者之间的界面恰当,接着再制作微晶的I型半导体及非晶的N型半导体后,及完成此薄膜太阳能核心部分,接着再制作背电极即可得其发电效率,而此发明的P型非晶半导体因为放置于穿隧效应中,可以消弥N/P内建电场,可以让电子电洞流通顺利,故可以提高太阳能薄膜电池效率。
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