[发明专利]一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统有效
| 申请号： | 201110283651.2 | 申请日： | 2011-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN102435422A | 公开（公告）日： | 2012-05-02 |
| 发明（设计）人： | 刘兴胜;吴迪;周国锋 | 申请（专利权）人： | 西安炬光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 徐平 |
| 地址： | 710119 陕西省西安市高*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统，以准确测试半导体激光器偏振度及其偏振模式。本发明的方案是：半导体激光器发出的光束经压缩汇聚后入射至偏振分光器件，按照偏振态分光形成透射光和反射光，分别读取透射光功率Pmax和反射光功率Pmin，计算得出半导体激光器偏振度为(Pmax-Pmin)/(Pmax+Pmin)。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体激光器 偏振 测试 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
一种半导体激光器偏振测试方法，其特征在于：半导体激光器发出的光束经压缩会聚后入射至偏振分光器件，按照偏振态分光形成透射光和反射光，分别读取透射光功率和反射光功率将功率较大的记为Pmax，功率较小的记为Pmin，计算得出半导体激光器偏振度为(Pmax‑Pmin)/(Pmax+Pmin)。
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