[发明专利]一种半导体激光器偏振测试方法及其测试系统有效
| 申请号： | 201110283651.2 | 申请日： | 2011-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN102435422A | 公开（公告）日： | 2012-05-02 |
| 发明（设计）人： | 刘兴胜;吴迪;周国锋 | 申请（专利权）人： | 西安炬光科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 徐平 |
| 地址： | 710119 陕西省西安市高*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 半导体激光器 偏振 测试 方法 及其 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种半导体激光器偏振测试方法，其特征在于：半导体激光器发出的光束经压缩会聚后入射至偏振分光器件，按照偏振态分光形成透射光和反射光，分别读取透射光功率和反射光功率将功率较大的记为Pmax，功率较小的记为Pmin，计算得出半导体激光器偏振度为(Pmax-Pmin)/(Pmax+Pmin)。
2.根据权利要求1所述的半导体激光器偏振测试方法，其特征在于：所述压缩会聚是进行快轴压缩或者快轴和慢轴一起压缩压缩。
3.根据权利要求1所述的半导体激光器偏振测试方法，其特征在于：所述偏振分光器件采用偏振立方体分光器，使P态偏振光透射，而S态偏振光被反射。
4.半导体激光器偏振测试系统，其特征在于：包括在半导体激光器出射光路上依次设置的会聚透镜聚、偏振分光器件，在偏振分光器件的透射方向和反射方向上分别设置有功率探测装置。
5.根据权利要求4所述的半导体激光器偏振测试系统，其特征在于：所述功率探测装置是功率计、或者光电探测器和数据采集卡的组合、或者光电探测器和万用表的组合。
6.根据权利要求4所述的半导体激光器偏振测试系统，其特征在于：所述的偏振分光器件为偏振立方体分光器，能够使P态偏振光透射，S态偏振光被反射。
7.根据权利要求4所述的半导体激光器偏振测试系统，其特征在于：所述会聚透镜为柱面透镜、球面透镜或者非球面透镜。
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