[发明专利]发光二极管立式测试方案有效
| 申请号： | 201110274042.0 | 申请日： | 2011-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN102323043A | 公开（公告）日： | 2012-01-18 |
| 发明（设计）人： | 刘骏;卓维煌 | 申请（专利权）人： | 深圳市华腾半导体设备有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518055 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种发光二极管立式测试方案，该方案包括：首先：通过立出型震动盘将发光二极管进行筛选，使发光二极管发光面朝上立着进入震动盘最前端；然后通过上料装置将立着的发光二极管从震动盘最前端吸出，放入到转动工作盘的吸嘴中，真空由吸嘴将发光二极管从侧面吸附紧贴在吸嘴上；最后通过水平夹紧的探针，从侧面夹住发光二极管的引脚，通电、检测。此种测试方式与其他类型发光二极管的测试方式一致，所以可以使侧发光型发光二极管的测试设备与其他类型发光二极管测试设备很好互换。 | ||
| 搜索关键词： | 发光二极管 立式 测试 方案 | ||
【主权项】：
一种发光二极管立式测试方案，该方案包括：首先：通过立出型震动盘将发光二极管进行筛选，使发光二极管发光面朝上立着进入震动盘最前端；然后通过上料装置将立着的发光二极管从震动盘最前端吸出，放入到转动工作盘的吸嘴中，真空由吸嘴将发光二极管从侧面吸附紧贴在吸嘴上；最后通过水平夹紧的探针，从侧面夹住发光二极管的引脚，通电、检测。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华腾半导体设备有限公司，未经深圳市华腾半导体设备有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110274042.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
