[发明专利]一种互补金属氧化物半导体时间延迟积分式感测器

摘要

本发明公开一种由M个像素所构成的互补金属氧化物半导体(CMOS)时间延迟与积分(TDI)式影像感测器，各像素是由一行N个时间延迟与积分级所形成。各时间延迟与积分级包括：一光二极管，其收集光电荷；以及一前置放大器，其将光电荷依比例地转换成电压。各时间延迟与积分级亦包含一组电容器、放大器、以及开关用于储存积分信号电压，而相关双取样与维持(CDS)技术(真实或拟似)同时维持光信号与重设电压。此互补金属氧化物半导体时间延迟与积分结构特别有利于执行X光扫瞄侦测器系统，其须要大尺寸像素与信号处理电路，并可使信号处理电路与光二极管阵列实体地分开，以便屏蔽信号电路免受X光的辐射损害。

主权项

一种互补金属氧化物半导体时间延迟与积分式感测器，其特征在于，包括：一积分与加总放大器，其具有一积分输入端子、可以与所述积分输入端子接合或分开的一加总输入端子、一输出端子、一积分电容器、以及一重设开关；一光侦测器，连接至所述积分与加总放大器的所述积分输入端子；一加总电容器，其第一电极连接至前一时间延迟与积分级的输出，且其第二电极连接至所述积分与加总放大器的所述加总输入端子；一相关双取样与维持电路，其包括多个开关与多个储存电路，所述相关双取样与维持电路具有一输入端子连接至所述积分与加总放大器的所述输出端子，且所述相关双取样与维持电路具有一输出端子连接至其后时间延迟与积分级的所述加总电容器；以及其中，首先通过将所述重设开关关闭，将所述积分与加总放大器重新设定，以及当所述重设开关随后开启时，将所述光侦测器的重设信号与储存在所述前一时间延迟与积分级的相关双取样与维持电路中的重设信号加总，且由所述相关双取样与维持电路立刻取样与保持；然后所述积分与加总放大器开始将所述光侦测器的光信号积分，且同时将所述光侦测器的积分光信号与储存于所述前一时间延迟与积分级的所述相关双取样与维持电路中的所述光信号加总成一组合光信号，而由所述相关双取样与维持电路取样与保持；以及所述组合光信号与所述重设信号保持在所述相关双取样与维持电路中，准备用于传送至以后的所述时间延迟与积分级。