[发明专利]颗粒物性测量池和颗粒物性测量装置有效
| 申请号： | 201110251703.8 | 申请日： | 2011-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN102401777A | 公开（公告）日： | 2012-04-04 |
| 发明（设计）人： | 山口哲司;名仓诚 | 申请（专利权）人： | 株式会社堀场制作所 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 周善来;李雪春 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种颗粒物性测量池和颗粒物性测量装置。所述颗粒物性测量池包括：有底筒形的池主体(21)，形成沿长边方向延伸的内部空间(S1)，并在一个端部(21x)开口；一对施加电极(22)，在内部空间(S1)中相对配置；固定间隔件(23)，通过夹在一对施加电极(22)之间，限定所述施加电极(22)之间的距离，并且固定一对施加电极(22)。在把固定间隔件(23)插入到池主体(21)内的状态下，在池主体(21)的内部空间(S1)的下部形成一对施加电极(22)露出的zeta电位测量空间(S2)。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 物性 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种颗粒物性测量池，用于测量分散在液体试样中的颗粒的物性值的颗粒物性测量装置，其特征在于，所述颗粒物性测量池包括：有底筒形的池主体，形成有沿长边方向延伸的内部空间，并在所述长边方向的一个端部开口；一对施加电极，从所述长边方向的一个端部插入所述池主体内，在所述内部空间中相对配置；固定间隔件，通过从所述长边方向的一个端部插入所述池主体内，并介于所述一对施加电极之间，来限定所述施加电极之间的距离，并且通过向所述池主体的内侧的面按压所述一对施加电极来固定所述施加电极，其中，在所述固定间隔件插入到所述池主体内的状态下，在所述池主体的所述内部空间下部形成有所述一对施加电极露出的颗粒物性测量空间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社堀场制作所，未经株式会社堀场制作所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110251703.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
