[发明专利]颗粒物性测量池和颗粒物性测量装置有效

专利信息
申请号: 201110251703.8 申请日: 2011-08-29
公开(公告)号: CN102401777A 公开(公告)日: 2012-04-04
发明(设计)人: 山口哲司;名仓诚 申请(专利权)人: 株式会社堀场制作所
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 代理人: 周善来;李雪春
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 颗粒 物性 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种颗粒物性测量池,用于测量分散在液体试样中的颗粒的物性值的颗粒物性测量装置,其特征在于,所述颗粒物性测量池包括:

有底筒形的池主体,形成有沿长边方向延伸的内部空间,并在所述长边方向的一个端部开口;

一对施加电极,从所述长边方向的一个端部插入所述池主体内,在所述内部空间中相对配置;

固定间隔件,通过从所述长边方向的一个端部插入所述池主体内,并介于所述一对施加电极之间,来限定所述施加电极之间的距离,并且通过向所述池主体的内侧的面按压所述一对施加电极来固定所述施加电极,其中,

在所述固定间隔件插入到所述池主体内的状态下,在所述池主体的所述内部空间下部形成有所述一对施加电极露出的颗粒物性测量空间。

2.根据权利要求1所述的颗粒物性测量池,其特征在于,

所述固定间隔件包括:插入部,插入所述池主体中;以及卡合部,在所述插入部插入到所述池主体中的状态下,与所述长边方向的一个端部卡合,

所述插入部比所述内部空间的长边方向的长度短。

3.根据权利要求1所述的颗粒物性测量池,其特征在于,所述固定间隔件具有试样导入通道,该试样导入通道把液体试样从外部导入所述颗粒物性测量空间内。

4.一种颗粒物性测量装置,其特征在于,使用权利要求1至3中任一项所述的颗粒物性测量池。

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