[发明专利]颗粒物性测量池和颗粒物性测量装置

说明书

技术领域

本发明涉及用于测量以zeta电位为主的颗粒的物性值的颗粒物性测量池或颗粒物性测量装置。

背景技术

在水溶液中，高分子及作为高分子聚集体的胶体颗粒因吸附解离性基团(dissociable group)或离子而带电。把因该带电形成的电位称为zeta(ζ)电位，通过对颗粒施加电场来测量颗粒的移动速度(电泳速度)，从而可以计算出所述zeta电位。

如专利文献1所示，为了利用电泳速度测量装置测量zeta电位，通过把电极插入到容纳有分散有颗粒的液体试样的测量池中，在该电极上施加直流电压，边对液体试样中的颗粒施加电场，边照射激光，在规定角度接收散射的散射光，并测量散射光与使一部分激光分开后得到的参考光(reference light)的振动数的差(干涉现象)，从而计算出液体试样中的颗粒的移动速度。然后通过对得到的移动速度进行规定的计算处理来计算出zeta电位。

如专利文献1和专利文献1的图9所示，以往的zeta电位测量池包括：有底筒形的池主体，用于容纳液体试样；以及电极传感器，插入所述池主体中。所述电极传感器具有一对施加电极和埋设有该施加电极的传感器主体，通过把该传感器主体嵌入池主体中，从而使一对施加电极与容纳在池主体内的液体试样接触。

在该zeta电位测量池中，由于电流在一对施加电极中流动，所以在施加电极上发生氧化还原反应，液体试样中的离子析出并附着在施加电极上。此外，在液体试样例如含有蛋白质等的情况下，所述蛋白质会附着在电极上。因此，在测量前等必须进行用于从施加电极上去除附着物的清洗。

可是，在所述结构的电极传感器中，由于采用通过把一对施加电极埋设在传感器主体中从而构成一体的结构，所以为了去除附着在施加电极上的物质，必须把整个电极传感器从池主体中取出来进行清洗。于是，传感器主体成为妨碍物，存在难以清洗电极的问题。此外，在仅把电极更换成新的情况下，必须更换电极传感器本身，在成本方面也是个问题。

此外，在要更换为与液体试样的种类对应的表面处理或材质不同的施加电极的情况下，也必须更换电极传感器本身，存在造成制造成本增大的问题。

专利文献1：日本专利公开公报特开2010-101705号

发明内容

本发明可以一举解决所述的问题，本发明的主要目的是：不仅可以独立地更换施加电极，从而容易清洗施加电极，而且可以把旧的施加电极更换为新的施加电极，还可以根据液体试样的种类更换施加电极，并且可以简化颗粒物性测量池的组装操作。

即，本发明提供一种颗粒物性测量池，用于测量分散在液体试样中的颗粒的物性值的颗粒物性测量装置，其特征在于，所述颗粒物性测量池包括：有底筒形的池主体，形成有沿长边方向延伸的内部空间，并在所述长边方向的一个端部开口；一对施加电极，从所述长边方向的一个端部插入所述池主体内，在所述内部空间中相对配置；固定间隔件，通过从所述长边方向的一个端部插入所述池主体内，并介于所述一对施加电极之间，来限定所述施加电极之间的距离，并且通过向所述池主体的内侧的面按压所述一对施加电极来固定所述施加电极，其中，在所述固定间隔件插入到所述池主体内的状态下，在所述池主体的所述内部空间下部形成有所述一对施加电极露出的颗粒物性测量空间。

按照所述的颗粒物性测量池，由于可以把施加电极和固定间隔件分别独立地从池主体上取下来，所以可以简化施加电极的清洗操作。此外，在施加电极的污垢弄不掉等情况下而需要更换施加电极的情况下，由于可以独立地更换施加电极，所以可以廉价地进行施加电极的更换。此时，由于仅通过把一对施加电极和固定间隔件插入池主体内，就可以在池主体内形成颗粒物性测量空间，所以颗粒物性测量池的组装简单。此外，由于可以独立地制作与液体试样的种类对应的不同的表面处理或不同材质的施加电极，且施加电极的更换也简单，从而可以容易地制作与各种液体试样的种类专门对应的颗粒物性测量池。

为了实现不考虑固定间隔件相对于池主体的插入位置，仅通过把固定间隔件插入池主体中，就可以形成颗粒物性测量空间，优选的是，所述固定间隔件包括：插入部，插入所述池主体中；以及卡合部，在所述插入部插入到所述池主体中的状态下，与所述长边方向的一个端部卡合，所述插入部比所述内部空间的长边方向的长度短。

为了在利用固定间隔件把施加电极固定在池主体上后，可以把液体试样导入颗粒物性测量空间内，从而可以与分批式测量和流动式测量的双方对应，优选的是，所述固定间隔件具有试样导入通道，该试样导入通道把液体试样从外部导入所述颗粒物性测量空间内。