[发明专利]具有内置自测的DRAM存储器控制器及其方法无效
| 申请号： | 201110242081.2 | 申请日： | 2011-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN102385560A | 公开（公告）日： | 2012-03-21 |
| 发明（设计）人： | R·古普塔;C-C·叶 | 申请（专利权）人： | VIXS系统公司 |
| 主分类号： | G06F13/16 | 分类号： | G06F13/16;G06F11/22 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 鲍进 |
| 地址： | 加拿大*** | 国省代码： | 加拿大;CA |
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| 摘要： | 本发明涉及具有内置自测的DRAM存储器控制器及其方法。使集成电路经由存储器接口与至少一个动态随机存取存储器(DRAM)接口。接收多个用户测试选项。按照所述多个用户测试选项控制所述存储器接口的测试。存储作为所述存储器接口的测试结果而产生的测试数据。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 内置 自测 dram 存储器 控制器 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种集成电路，包括：存储器接口，用于使所述集成电路与至少一个动态随机存取存储器(DRAM)接口；处理模块，用于执行至少一个应用；耦接到所述处理模块和所述存储器接口的DRAM控制器，用于结合所述应用控制对所述至少一个动态随机存取存储器的存取；以及耦接到所述DRAM控制器的DRAM内置自测(DBIST)单元，用于测试所述存储器接口，所述DBIST单元包括：输入寄存器，用于接收多个用户测试选项；耦接到所述输入寄存器的控制器，用于按照所述多个用户测试选项控制所述存储器接口的测试；以及耦接到所述控制器的输出寄存器，用于存储作为所述存储器接口的测试结果而产生的测试数据。
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