[发明专利]一种工件台质量测校方法有效
| 申请号: | 201110241779.2 | 申请日: | 2011-08-22 |
| 公开(公告)号: | CN102955367A | 公开(公告)日: | 2013-03-06 |
| 发明(设计)人: | 吴立伟;董俊清 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备有限公司 |
| 主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G01G19/00 |
| 代理公司: | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人: | 王光辉 |
| 地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | 一种工件台质量测校方法,工件台上安装有电机动子,位于工件台下方的平衡质量上安装有电机定子,包括规划工件台的匀速运动轨迹;电机驱动工件台按照规划的匀速运动轨迹做匀速运动,平衡质量受到工件台的作用力做相应的匀速运动,工件台采用闭环控制,平衡质量采用开环控制;根据平衡质量的位移、工件台相对于平衡质量的位移分别计算获得平衡质量的速度vbm_rel、工件台相对于平衡质量的速度vls2bm_rel;根据工件台相对于平衡质量的速度vls2bm_rel计算获得电机的磁铁扰动力频率fcog;根据磁铁扰动力频率fcog和平衡质量的质量mbm_rel计算获得工件台和平衡质量的质量比κ和工件台的质量mls。本方法简单实用、不需要特别设计算法,便于在线测试。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 工件 质量 校方 | ||
【主权项】:
一种工件台质量测校方法,其特征在于,所述工件台上安装有电机动子,位于所述工件台下方的平衡质量上安装有电机定子,包括以下步骤:步骤1,规划所述工件台的匀速运动轨迹;步骤2,所述电机驱动所述工件台按照规划的匀速运动轨迹做匀速运动,所述平衡质量受到所述工件台的作用力做相应的匀速运动,所述工件台采用闭环控制,所述平衡质量采用开环控制;步骤3,根据所述平衡质量的位移、工件台相对于平衡质量的位移分别计算获得所述平衡质量的速度vbm_rel、工件台相对于平衡质量的速度vls2bm_rel;步骤4,根据工件台相对于平衡质量的速度vls2bm_rel计算获得所述电机的磁铁扰动力频率fcog;步骤5,根据磁铁扰动力频率fcog和所述平衡质量的质量mbm_rel计算获得所述工件台和所述平衡质量的质量比κ和所述工件台的质量mls。
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