[发明专利]一种高速条件下红外成像谱段优化选择方法有效

专利信息
申请号: 201110134064.7 申请日: 2011-05-23
公开(公告)号: CN102243763A 公开(公告)日: 2011-11-16
发明(设计)人: 张天序;关静;陈建冲;左芝勇;桑农;颜露新;杨卫东;周钢;陈浩;余铮;武道龙 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 李佑宏
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种红外成像谱段优化选择方法,包括(1)获取超光谱图像数据;(2)获取地/海面背景辐射强度,大气辐射强度,高速流场辐射强度以及地/海面目标辐射强度;(3)根据获取的各辐射强度数据,计算得到成像目标辐射强度及成像背景辐射强度;(4)设定代价函数;(5)将超光谱图像及其目标/背景辐射强度代入代价函数,计算得到相应的代价;(6)设定优化选择的谱段数目,将代价按照从小到大的顺序进行排序得到代价数列,取其前个元素即代价最小的个谱段的成像数据,即为进行优化选择后所得到的谱段及该谱段下的成像数据。利用本发明的方法进行谱段优化选择后,超光谱图像数据成像效果佳,图像的目标/背景对比度和信杂比大。
搜索关键词: 一种 高速 条件下 红外 成像 优化 选择 方法
【主权项】:
一种红外成像谱段优化选择方法,包括如下步骤:(1)获取超光谱图像数据,即获取场景在多个谱段下的成像数据{fk|k=1,2,...,n‑1,n};其中,n为成像谱段的谱段数,k为成像谱段的序号,fk为在谱段λk条件下的成像,图像fk的大小为M×N;(2)分别获取所述超光谱图像{fk|k=1,2,...,n‑1,n}的地/海面背景辐射强度{W1(r,λk)|k=1,2,...,n‑1,n},大气辐射强度{W2(r,λk)|k=1,2,...,n‑1,n},高速流场辐射强度{W3(r,λk)|k=1,2,...,n‑1,n}以及地/海面目标辐射强度{W4(r,λk)|k=1,2,...,n‑1,n},其中r为大气透过率/流场传输率函数;(3)根据步骤(2)中获取的各种辐射强度数据,计算得到超光谱图像{fk|k=1,2,...,n‑1,n}的成像目标辐射强度{Wo(r,λk)|k=1,2,...,n‑1,n}及成像背景辐射强度{Wb(r,λk)|k=1,2,...,n‑1,n};(4)设定成像谱段优化选择的代价函数:C(f,λ)=α1F(R(f))‑α2F(H(f))‑α3F(Wo(r,λ))+α4F(Wb(r,λ))式中,F为单调递增函数,R(f)为图像f与其前后谱段成像图像的相关系数,H(f)为图像f的熵,Wo(r,λ)为成像目标辐射强度,Wb(r,λ)为成像背景辐射强度,αi>0(i=1,2,3,4)为权系数;(5)将所述超光谱图像{fk|k=1,2,...,n‑1,n}及其目标/背景辐射强度{Wo(r,λk),Wb(r,λk)|k=1,2,...,n‑1,n}代入所述代价函数,计算得到相应的代价{C(fk,λk)|k=1,2,...,n‑1,n};(6)设定优化选择的谱段数目m,将步骤(5)中得到的超光谱图像fk的代价{C(fk,λk)|k=1,2,...,n‑1,n}按照从小到大的顺序进行排序,得到代价数列{C′(fl,λl)|C′(fl,λl)≤C′(fl+1,λl+1);l=1,2,...,n‑1,n},取其前m个元素{C′(fl,λl)|l=1,2...m‑1,m}即代价最小的m个谱段的成像数据{(fk,λk)|C(fk,λk)=C′(fl,λl);l=1,2,...,m‑1,m},即为进行优化选择后所得到的谱段及该谱段下的成像数据。
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