[发明专利]一种脉冲激光单粒子翻转截面的实验方法无效
申请号: | 201010624396.9 | 申请日: | 2010-12-31 |
公开(公告)号: | CN102169022A | 公开(公告)日: | 2011-08-31 |
发明(设计)人: | 薛玉雄;把得东;马亚莉;安恒;杨生胜;曹洲;田恺 | 申请(专利权)人: | 中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所 |
主分类号: | G01J11/00 | 分类号: | G01J11/00;G01R31/00;G01R31/311 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 杨志兵 |
地址: | 甘肃省兰*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | 本发明提出了一种脉冲激光单粒子翻转截面的实验方法,用一定数值的脉冲激光能量E,对器件内部进行扫描辐照,根据监测的器件发生单粒子翻转次数、辐照次数(扫描布点数),便可得出该能量E下的激光单粒子翻转截面数值,通过改变不同能量脉冲激光进行扫描辐照,便可得到激光单粒子翻转截面σ~E曲线。为进一步实现对被试器件抗单粒子翻转能力的预估提供了技术支撑,使今后地面脉冲激光模拟单粒子效应研究工作更加方便、实用。 | ||
搜索关键词: | 一种 脉冲 激光 粒子 翻转 截面 实验 方法 | ||
【主权项】:
1.脉冲激光单粒子翻转截面的实验方法,其特征在于:用i个不同能量E的脉冲激光,进行扫描辐照芯片,激光辐照器件总次数M,检测器件发生的单粒子事件数N,则能量为E(i)的激光照射下器件的单粒子翻转截面σ(i)为:
式中,S为器件芯片面积,单位为cm2/器件。根据试验数据就可以得出不同能量下激光单粒子翻转截面σ,从而得到激光单粒子翻转截面σ~E能量曲线。
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