[发明专利]掺杂的III-N大块晶体和自支撑的、掺杂的III-N衬底有效

专利信息
申请号: 201010623047.5 申请日: 2006-08-09
公开(公告)号: CN102140696A 公开(公告)日: 2011-08-03
发明(设计)人: 费迪南德·肖尔茨;彼得·布鲁克纳;弗兰克·哈贝尔;贡纳尔·莱比戈 申请(专利权)人: 夫莱堡复合材料公司
主分类号: C30B29/40 分类号: C30B29/40;C30B25/20
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 陈海涛;樊卫民
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及掺杂的III-N大块晶体和自支撑的、掺杂的III-N衬底,其中III代表周期表第III主族的、选自Al、Ga和In的至少一种元素,N代表氮。在所述掺杂的III-N大块晶体和自支撑的、掺杂的III-N衬底中,掺杂物质分别在生长方向上以及在垂直于生长方向的生长平面内非常均一地分布。相应地,可以在生长方向上以及在垂直于生长方向的生长平面内提供载流子浓度和/或比电阻的非常均一的分布。此外,还可以获得非常好的晶体质量。
搜索关键词: 掺杂 iii 大块 晶体 支撑 衬底
【主权项】:
掺杂的III‑N大块晶体,其特征在于,具有选自下述参数(a)至(c)的均一性参数:(a)在显微拉曼图谱中,(i)在平行于生长平面的面上和/或(ii)在生长方向上的面上,LPP+模式的所测得的频率位置的标准偏差在情况(i)下为5%或者更少,在情况(ii)下为10%或者更少;(b)在MDP图谱中,(i)在平行于生长平面的面上和/或(ii)在生长方向上的面上,光电导性信号的标准偏差在情况(i)下为5%或者更少,在情况(ii)下为10%或者更少;(c)在显微光致发光图谱中,(i)在平行于生长平面的面上和/或(ii)在生长方向上的面上,D0X跃迁的线宽度的标准偏差在情况(i)下为5%或者更少,在情况(ii)下为10%或者更少。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夫莱堡复合材料公司,未经夫莱堡复合材料公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010623047.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top