[发明专利]基于阳极键合工艺的热式风速风向传感器及其制备方法无效
申请号: | 201010573973.6 | 申请日: | 2010-12-06 |
公开(公告)号: | CN102082105A | 公开(公告)日: | 2011-06-01 |
发明(设计)人: | 董自强;黄庆安;秦明 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/8238;H01L23/373;H01L23/31;B81B7/02;B81C1/00;G01P5/10;G01P13/02 |
代理公司: | 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 | 代理人: | 汤志武 |
地址: | 210096*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开一种基于阳极键合工艺的圆片级封装热式风速风向传感器,包括以下步骤:第一步,硅芯片的制备,利用标准CMOS工艺制作加热元件、热传感测温元件和电引出焊盘,并利用MEMS干法刻蚀工艺刻蚀掉硅芯片正表面阳极键合区域的氧化层,露出硅基。第二步,封装玻璃基板的制备,利用湿法腐蚀工艺制备阳极键合用凸台,并利用激光刻蚀工艺制备电引出用通孔;第三步,利用阳极键合技术将硅芯片和封装玻璃基板实现键合封装;第四步,利用减薄工艺对硅芯片衬底进行减薄;第五步,将陶瓷传感基板贴封至减薄后的对芯片背面;第六步,划片,完成传感器的制备。整个传感器的制备过程,所使用的制备工艺与标准CMOS工艺兼容,后处理工艺简单,封装阳极键合技术实现对传感用硅芯片的正面保护,陶瓷基本贴封至减薄后的硅芯片背面一方面作为热敏感材料感知外界环境中风的变化,另一方面用于保护硅芯片。传感器的实现了圆片级封装,具有工艺一致性高,兼容性好,后续工艺简单,低成本的特点。 | ||
搜索关键词: | 基于 阳极 工艺 风速 风向 传感器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种基于阳极键合工艺的热式风速风向传感器,包括减薄硅芯片(15),所述减薄硅芯片(15)的背面通过导热胶(16)连接有陶瓷传感基板(17),在减薄硅芯片(15)的正面设有氧化层(6),在氧化层(6)的中部设有4个多晶硅加热元件(4)及4个热传感测温元件(7),在氧化层(6)的边缘区域设有电引出焊盘(10),4个多晶硅加热元件(4)及4个热传感测温元件(7)分别通过金属引线与电引出焊盘(10)连接,其特征在于,在氧化层(6)上设有能够露出减薄硅芯片(15)的键合用空腔(11),在键合用空腔(11)中露出的减薄硅芯片(15)上键合有封装玻璃基板(12)且由设在封装玻璃基板(12)的键合用凸台(13)与所露出的减薄硅芯片(15)键合,在封装玻璃基板(12)设有能使电引出焊盘(10)露出的电引出用通孔(14)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东南大学,未经东南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010573973.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种SOI电路中的ESD保护结构及制作方法
- 下一篇:海洋立管无损检测装置
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造