[发明专利]单晶纳米线阵列的合成方法有效

专利信息
申请号: 201010536975.8 申请日: 2010-11-09
公开(公告)号: CN101985774A 公开(公告)日: 2011-03-16
发明(设计)人: 吴凯;宫勇吉;余捷峰;黄斌;尚鉴 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: C30B25/04 分类号: C30B25/04;C30B29/62
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 代理人: 贾晓玲
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种合成单晶纳米线阵列的方法,属于纳米材料的制备领域。该方法首先选择蒸汽压的前驱体,然后结合模板,采用气相沉积的方法,利用生长环境中的水蒸气或者其它具有湿度的载气完成反应,最终生长得到纳米线沉积到模板的孔道中,形成单晶纳米线阵列。本发明所制备的材料具有长度可调,直径可调,可以得到品质优良的单晶等诸多优点,解决了以往纳米线合成中易于被污染,长度、直径不可控,晶体质量差,所得纳米线产量稀少以及实验重复性差等缺点。
搜索关键词: 纳米 阵列 合成 方法
【主权项】:
一种单晶纳米线阵列的合成方法,其步骤包括:A.制备模板;B.在瓷舟中放入前驱体和模板;C.将瓷舟放入化学气相沉积装置的石英管或马弗炉中;D.以5‑50℃/min的升温速度升至300‑800℃,在此温度下维持0.5‑30小时;E.待温度自然冷却,去除模板,得到单晶纳米线阵列。
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