[发明专利]化学放大型正性光致抗蚀剂组合物及图案的形成方法有效
申请号: | 201010289418.0 | 申请日: | 2010-06-12 |
公开(公告)号: | CN101923288A | 公开(公告)日: | 2010-12-22 |
发明(设计)人: | 增永惠一;田中启顺;土门大将;渡边聪;大泽洋一;大桥正树 | 申请(专利权)人: | 信越化学工业株式会社 |
主分类号: | G03F7/039 | 分类号: | G03F7/039;G03F7/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 任宗华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种聚合物,包含高比例的含芳环结构单元,且侧链上含芳香磺酸锍盐,该聚合物用于形成化学放大正性光致抗蚀剂组合物,该组合物对于形成具有高抗蚀性的抗蚀图案是有效的。所述聚合物克服了在用于聚合和纯化的溶剂中以及抗蚀剂溶剂中的溶解问题。 | ||
搜索关键词: | 化学 大型 正性光致抗蚀剂 组合 图案 形成 方法 | ||
【主权项】:
1.一种包括聚合物的化学放大型正性光致抗蚀剂组合物,该聚合物包含具有通式(1)到(3)或(1)到(4)的重复单元:
其中,R1是氢、氟、甲基或三氟甲基,R2是氢、取代或非取代、直链、支链或环状C1-C10烷基或取代或非取代、直链、支链或环状C1-C10烷氧基,R3每个独立地为C1-C10烷基,A是单键或二价的可被醚键间隔的C1-C10有机基团,B是苯环或包含最多3个芳环的稠合多环芳基,s每个独立地为0或1,u为0或1,a每个独立地为0到3的整数,b和c每个独立地为1到3的整数,当c为1时,X为酸性不稳定基团,当c为2或3时,X为氢或酸性不稳定基团,至少一个X为酸性不稳定基团,且Q具有通式(5)或(6):
其中R6每个独立地为氢、羟基、C1-C7烷羰氧基或C1-C6烷基、烷氧基、卤代烷基或卤代烷氧基,且d为从0到4的整数,所述式(1)的单元占整个聚合物单元的至多10mol%。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于信越化学工业株式会社,未经信越化学工业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010289418.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。