[发明专利]一种采用绝对相位测量的光学三维测量方法无效
申请号: | 201010161971.6 | 申请日: | 2010-04-29 |
公开(公告)号: | CN101806587A | 公开(公告)日: | 2010-08-18 |
发明(设计)人: | 李勇;钱义先;赵翠芳;金洪震;王辉;金可有 | 申请(专利权)人: | 浙江师范大学 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100 | 代理人: | 徐关寿 |
地址: | 321004 *** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明属于光学三维传感技术领域,具体涉及一种采用绝对相位测量的光学三维测量方法。本发明提供了一种采用单幅辅助编码图案的方法,它结合相位编码方案中截断相位分布特点及编码图案变形特点,使用3值灰度编码,提高解码可靠性,并且简化了解码算法。即采用正弦光栅或罗奇光栅图案加一幅空间灰度编码图案的方法实现绝对相位测量,进而计算出物体的三维形貌和空间位置。 | ||
搜索关键词: | 一种 采用 绝对 相位 测量 光学 三维 测量方法 | ||
【主权项】:
一种采用绝对相位测量的光学三维测量方法,包括以下步骤:1)、一配备光栅的投影仪向物体投射结构光图案;2)、一摄像机在另一位置拍摄被物体反射回来的变形图像;3)、对物体反射回来的变形图像进行解析,获得与摄像机像面上的点对应的投影平面上点的坐标;4)、根据几何关系计算出物体测量点坐标进行三维重构,获得物体三维图像;其特征在于步骤1)所述的结构光图案包含光栅图案和空间灰度编码图案,该空间灰度编码图案由以下步骤构建:A)、空间灰度编码图案由若干与光栅条纹对应的条带构成,条带的宽度与条纹周期相同;B)、利用条带中沿条带方向的灰度值变化规律确定一组编码符号;C)、由这组编码符号构建的伪随机序列确定空间灰度编码图案。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江师范大学,未经浙江师范大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010161971.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。