[发明专利]三维立体堆叠的电阻转换存储器的制造方法有效
申请号: | 201010152466.5 | 申请日: | 2010-04-20 |
公开(公告)号: | CN101834152A | 公开(公告)日: | 2010-09-15 |
发明(设计)人: | 张挺;马晓波;宋志棠;刘旭焱;刘波;封松林 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/82;H01L27/24 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 王松 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种三维立体多层堆叠的电阻转换存储器的制造方法,所述方法包括如下步骤:在制造有外围电路和电阻转换存储阵列的表面依次沉积粘附层和金属层,辅助以化学机械抛光进行平坦化,形成需要键合的圆晶一;制造键合所需的圆晶二工艺如下:在圆晶上形成PN层,并进行激活处理,随后表面依次沉积粘附层和金属层,并平坦化;圆晶键合圆晶一和圆晶二;通过后续的工艺去除圆晶二多余部分,可采用背面腐蚀、抛光、或者退火剥离工艺。本发明还包括一种制造肖特基二极管选通的三维立体堆叠的电阻转换存储器的制造方法。本发明不仅能够使工艺与电阻转换存储器工艺兼容,而且具有良好的可靠性和较少的缺陷,有望在三维立体堆叠中获得大规模的应用。 | ||
搜索关键词: | 三维立体 堆叠 电阻 转换 存储器 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种三维立体堆叠的电阻转换存储器的制造方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:(A)制造半导体第一圆晶,在制造有外围电路和至少一层选通和电阻转换存储器存储阵列的基底表面依次沉积粘附层甲和金属层甲,此过程辅助以化学机械抛光进行平坦化;(B)制造半导体第二圆晶,在半导体基底上形成PN层,并进行激活处理实现掺杂杂质的激活,在含有PN层的第二圆晶表面依次沉积粘附层乙和金属层乙,此过程辅助以化学机械抛光进行平坦化;(C)将第一圆晶和第二圆晶进行键合,第二圆晶含有金属层乙的表面与第一圆晶含有金属层甲的表面进行接触,通过键合实现堆叠;(D)堆叠完成后去除原第二圆晶多余部分,保留PN层;(E)在获得堆叠后的平坦基底上制造PN二极管选通阵列和电阻转换存储器阵列;(G)制造通孔和上电极,并进行封装处理。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造