[发明专利]存储器系统、存储器测试系统及其测试方法有效
| 申请号： | 201010110966.2 | 申请日： | 2010-02-02 |
| 公开（公告）号： | CN101794625A | 公开（公告）日： | 2010-08-04 |
| 发明（设计）人： | 赵秀行;宋基在;徐成东;河镜虎;金圣九;金永今;赵寅成 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 李佳;穆德骏 |
| 地址： | 韩国京畿道水*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储器系统、存储器测试系统及其测试方法。该存储器测试系统包括：存储器器件；测试器，该测试器产生时钟信号和用于测试存储器器件的测试信号；以及光分路模块。光分路模块包括电-光信号转换单元，该电-光信号转换单元将时钟信号和测试信号中的每个转换成光信号，以将时钟信号和测试信号输出为光时钟信号和光测试信号。光分路单元还包括光信号分路单元和光-电信号转换单元，该光信号分路单元将光时钟信号和光测试信号中的每个分路成n个信号(n为至少2)，该光-电信号转换单元接收分路的光时钟信号和分路的光测试信号，以将分路的光时钟信号和分路的光测试信号转换成存储器器件中使用的电信号。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 系统 测试 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种存储器测试系统，包括：存储器器件；测试器，所述测试器产生时钟信号和用于测试所述存储器器件的测试信号；以及光分路模块，所述光分路模块包括电-光信号转换单元、光信号分路单元以及光-电信号转换单元，所述电-光信号转换单元将所述时钟信号和所述测试信号中的每个转换成光信号，以将所述时钟信号和所述测试信号输出为光时钟信号和光测试信号，所述光信号分路单元将所述光时钟信号和所述光测试信号中的每个分路成n个信号，n为至少2个，所述光-电信号转换单元接收分路的光时钟信号和分路的光测试信号，以将所述分路的光时钟信号和所述分路的光测试信号转换成所述存储器件中使用的电信号。
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