[发明专利]存储器系统、存储器测试系统及其测试方法

说明书

本专利申请要求2009年2月2日递交给韩国知识产权局的韩国专 利申请No.10-2009-0008038的优先权，其全部公开内容通过引用结合 于此。

技术领域

本申请涉及一种半导体器件，并且更具体而言，涉及一种存储器 系统和存储器测试系统，通过对施加到存储器的时钟信号进行光分路， 该存储器系统和存储器测试系统具有高可靠性并且以高速执行功能。 该申请还涉及使用光分路来测试存储器系统和存储器测试系统的方法 以及使用该测试方法来制造产品的方法。

背景技术

在执行存储器测试中，为了使制造工艺流水线化并且降低存储器 的单位成本，减少测试时间和成本是重要的。因此，已经对能够减少 测试时间和成本的各种方法进行了研究。为了减少成本并且加快制造 工艺，所公开的实施例包括同时对多个存储器执行稳定的测试操作。

发明内容

在一个实施例中，公开了一种存储器测试系统。该存储器测试系 统包括：存储器器件；测试器，该测试器产生时钟信号和用于测试存 储器器件的测试信号；以及光分路模块。光分路模块包括：电-光信号 转换单元，该电-光信号转换单元将时钟信号和测试信号中的每个转换 成光信号，以将时钟信号和测试信号输出为光时钟信号和光测试信号。 光分路单元还包括光信号分路单元和光-电信号转换单元，该光信号分 路单元将光时钟信号和光测试信号中的每个分路成n个信号(n为至少 2)，该光-电信号转换单元接收分路的光时钟信号和分路的光测试信号， 以将分路的光时钟信号和分路的光测试信号转换成存储器器件中使用 的电信号。

根据另一实施例，公开了一种测试多个集成电路器件的方法。该 方法包括：产生用于测试集成电路器件的时钟信号和测试信号；将时 钟信号和测试信号转换成光信号，并且将时钟信号和测试信号输出为 光时钟信号和光测试信号；分路光时钟信号；分路光测试信号；接收 分路的光信号，并且将分路的光信号中的每个重新转换成电信号；以 及通过使用重新转换的时钟信号和测试信号同时对多个集成电路器件 执行测试。

根据另一实施例，公开了一种存储器系统。该存储器系统包括： 至少一个存储器器件；以及存储器控制器，该存储器控制器产生时钟 信号和用于控制至少一个存储器器件的控制信号。该存储器系统还包 括光分路模块。该光分路模块包括：电-光信号转换单元，该电-光信号 转换单元将时钟信号和控制信号中的每个转换成光信号，并且将时钟 信号和控制信号输出为光时钟信号和光控制信号；以及光信号分路单 元，该光信号分路单元将光时钟信号和光控制信号分路成n个信号(n 为2或更大)。存储器系统还包括光-电信号转换单元，该光-电信号转 换单元接收分路的光时钟信号和光控制信号，并且将分路的光时钟信 号和光控制信号转换成在至少一个存储器器件中使用的电信号。

根据又一实施例，公开了一种制造存储器器件的方法。该方法包 括：将存储器器件形成为包括至少一个其他存储器器件的晶片或封装 的一部分；以及测试该存储器器件。在一个实施例中，使用一个或多 个电-光转换器、将光信号分路成两个或更多个分路的光信号的一个或 多个光分路器以及一个或多个光-电转换器，对存储器器件和至少一个 其他存储器器件执行测试。

附图说明

通过下面结合附图进行的详细描述，将更清楚地理解示例性实施 例，其中：

图1是示出根据一个实施例的示例性存储器测试系统的框图；

图2是用于说明分路电信号的图示；

图3A和3B是用于说明由于电信号的分路而导致信号失真的曲线 图；

图4是根据一个实施例的测试存储器的示例性方法的流程图；

图5A示出根据一个实施例的示例性光分路器，以及图5B描述了 示出通过测试存储器测试系统的方法被进行光分路的时钟信号的波形 的曲线图；

图6示出根据一个实施例的示例性计算机系统；

图7示出根据一个实施例的示例性存储器系统；以及

图8是使用所公开的测试方法来制造器件的示例性方法的流程图。